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J-GLOBAL ID：201702245272198262   整理番号：17A0964841

試験過去,現在,未来どこへ行く:必要悪もはや【Powered by NICT】

Quo Vadis Test? The Past, the Present, and the Future: No Longer a Necessary Evil

著者 (1件)： Chakrabarty Krishnendu (Department of Electrical and Computer Engineering, Duke University, Durham, NC, USA)
資料名： IEEE Design & Test  (IEEE Design & Test)
巻： 34  号： 3  ページ： 93-95  発行年： 2017年 
JST資料番号： B0007C  ISSN： 2168-2356  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 長い間,試験は,集積回路の設計と製造における思いつきであると考えられた。設計者は産業の英雄し,ウエハを作製し,収入を生成する鋳造工場は魔法(と不思議な)場所であった。試験技術者は背景で働く 静かとはるかに騒動なし ,それらはそれらにtossedしたチップを,精密検査を通過したチップを投げて表にした。試験は「四文字語」し,実際に必要悪であると考えられた。設計とテストの世界は克服できない煉瓦壁によって分離した。試験産業は「Big Iron」自動試験装置(ATE)を作成したことを試験機会社によって支配された。Copyright 2017 The Institute of Electrical and Electronics Engineers, Inc. All Rights reserved. Translated from English into Japanese by JST【Powered by NICT】

シソーラス用語： 技術者 ,  試験装置 ,  集積回路 ,  鋳造工場 ,  煉瓦 ,  *自動試験

分類 (1件)： 固体デバイス計測・試験・信頼性  (NC03040G)

タイトルに関連する用語 (3件)： 試験 ,  過去 ,  未来