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J-GLOBAL ID：201702245871914237   整理番号：17A1258632

完全センサ微量解析を用いた故障検出への新しいアプローチ【Powered by NICT】

A novel approach to Fault Detection using full sensor trace analytic

著者 (2件)： Tom Ho (BISTel, Inc., Santa Clara, California, USA) ,  Wong Justin (BISTel, Inc., Santa Clara, California, USA)
資料名： IEEE Conference Proceedings  (IEEE Conference Proceedings)
巻： 2017  号： MIPRO  ページ： 168-171  発行年： 2017年 
JST資料番号： W2441A  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 原著論文  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： FDC(Fault Detection&Classification)における新しいアプローチは,技術者がより完全かつ正確に問題を明らかにすることを可能にする故障検出のための完全なセンサの利点を持っている。溶液は,プロセスの変化に適応する知的参照モデルを利用し,設定する最小努力を必要とする。は大きく展開に必要な時間を減少させ,FDCシステムに対する保全を実質的に除去できる。誤差傾向があり,面倒な制御限界の除去はより正確な故障検出と結合したプロセスを設定し,偽と迷惑警報が大幅に削減される。Copyright 2017 The Institute of Electrical and Electronics Engineers, Inc. All Rights reserved. Translated from English into Japanese by JST【Powered by NICT】

シソーラス用語： 規範モデル ,  *センサ ,  警報 ,  *故障検出 ,  技術者

分類 (2件)： 信頼性  (KB04040H) ,  固体デバイス製造技術一般  (NC03030V)

タイトルに関連する用語 (2件)： 解析 ,  故障検出