Mbarek S. について
Normandie Univ, UNIROUEN, INSA Rouen, CNRS, GPM UMR CNRS 6634, 76000 Rouen, France について
Dherbecourt P. について
Normandie Univ, UNIROUEN, INSA Rouen, CNRS, GPM UMR CNRS 6634, 76000 Rouen, France について
Latry O. について
Normandie Univ, UNIROUEN, INSA Rouen, CNRS, GPM UMR CNRS 6634, 76000 Rouen, France について
Fouquet F. について
Normandie Univ, UNIROUEN, ESIGELEC, IRSEEM EA 4353, 76000 Rouen, France について
Microelectronics Reliability について
ロバスト性 について
電気測定 について
時効 について
集束イオンビーム について
微細構造 について
構造解析 について
光電子放出 について
炭化ケイ素 について
切削 について
顕微鏡 について
MOSFET について
電力トランジスタ について
破壊モード について
走査電子顕微鏡 について
破壊機構 について
トランジスタ について
固体デバイス計測・試験・信頼性 について
SiC について
MOSFET について
短絡 について
頑健性 について
試験 について
微細構造 について
分析 について