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J-GLOBAL ID：201702248243516979   整理番号：17A1221033

水蒸気中の電子輸送の解析

Electron transport analysis in water vapor

著者 (4件)： KAWAGUCHI Satoru (Graduate School of Muroran Inst. of Technol., Hokkaido, JPN) ,  TAKAHASHI Kazuhiro (Graduate School of Muroran Inst. of Technol., Hokkaido, JPN) ,  SATOH Kohki (Graduate School of Muroran Inst. of Technol., Hokkaido, JPN) ,  ITOH Hidenori (Graduate School of Muroran Inst. of Technol., Hokkaido, JPN)
資料名： Japanese Journal of Applied Physics  (Japanese Journal of Applied Physics)
巻： 55  号： 7S2  ページ： 07LD03.1-07LD03.7  発行年： 2016年07月 
JST資料番号： G0520B  ISSN： 0021-4922  CODEN： JJAPB6  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： イギリス (GBR)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 弾性,回転,振動,電子励起,電子付着およびイオン化断面積を含めた水蒸気に対する電子の衝突断面積の信頼できる組を電子スウォーム法で推定した。さらに,弾性および回転励起衝突に対する異方性電子散乱をこの断面積の組で考察した。電子のドリフト速度や縦拡散係数,実効電離係数などの電子輸送係数を広い範囲のE/N値で,ここでEとNはそれぞれ印加電圧とH₂O分子の数密度,モンテカルロシミュレーションで設定した断面積から計算した。計算した輸送係数は測定したものとよく一致した。得られたこの結果は異方性電子散乱が低E/N値での計算に重要であることを検証した。さらに,等方性電子散乱を仮定したこの断面積の組を実利用に対して提案した。(翻訳著者抄録)

シソーラス用語： *水蒸気 ,  *分子-電子衝突 ,  *輸送現象 ,  プラズマ ,  *断面積 ,  *電子衝突 ,  振動励起 ,  電子付着 ,  電子励起 ,  イオン化 ,  回転励起 ,  弾性散乱 ,  *電子スウォーム ,  散乱 ,  *電子散乱 ,  *輸送係数 ,  ドリフト速度 ,  拡散係数 ,  電離係数 ,  モンテカルロ法 ,  計算機シミュレーション
準シソーラス用語： *衝突断面積 ,  異方性散乱

分類 (2件)： 気体放電  (BJ03020T) ,  電子と分子の衝突・散乱  (BH07030A)

引用文献 (42件)：

• J. Takahata, K. Takaki, N. Satta, N. Satta, K. Takahashi, T. Fujio, and Y. Sasaki, Jpn. J. Appl. Phys. 54, 01AG07 (2015).
• C. A. J. van Gils, S. Hofmann, B. K. H. L. Boekema, R. Brandenburg, and P. J. Bruggeman, J. Phys. D 46, 175203 (2013).
• H. Kuwahata, T. Yamaguchi, R. Ohyama, and A. Ito, Jpn. J. Appl. Phys. 54, 01AG08 (2015).
• E. Usui, T. Ohshima, H. Yamazaki, S. Ikawa, K. Kitano, N. Maeda, and Y. Momoi, Nihon Shika Hozongaku Zasshi 58, 101 (2015) [in Japanese].
• Y. Miyazaki, K. Satoh, and H. Itoh, Elect. Eng. Jpn. 174 [2], 1 (2011).

タイトルに関連する用語 (3件)： 水蒸気 ,  電子輸送 ,  解析