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J-GLOBAL ID:201702249242170914   整理番号:17A1019965

ハフニウム前配向層を持つ垂直配向したGaNナノ構造の選択領域成長【Powered by NICT】

Selective-area growth of vertically oriented GaN nanostructures with a hafnium pre-orienting layer
著者 (10件):
資料名:
巻: 468  ページ: 110-113  発行年: 2017年 
JST資料番号: B0942A  ISSN: 0022-0248  資料種別: 逐次刊行物 (A)
記事区分: 原著論文  発行国: オランダ (NLD)  言語: 英語 (EN)
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重症メルトバックエッチングは,Si上のGaNのエピタクシーは,高品質の二次元層を成長させるためのAlNバッファ層を用いて,その高抵抗率にもかかわらず強いてきた。ここでは,従来のAlNバッファ層を置き換えるために成長GaNナノ構造(NSs)のための金属前配向層(POL)を報告した。二金属,チタン(Ti)およびハフニウム(Hf),POLとして評価した。選択領域成長を用いた高優先配向したGaN NSsのアレイを作製することに成功した。POLの結晶学的相は結晶の進化した配向に大きく影響した。光ルミネセンス測定は,HfベースPOLを持つGaN NSsは合理的に高品質であることを明らかにした。はこの結果は従来のSi系オプトエレクトロニクスを超えた動き代替基質を用いた広いIII-V族半導体への応用を容易にするであろうと信じている。Copyright 2017 Elsevier B.V., Amsterdam. All rights reserved. Translated from English into Japanese by JST.【Powered by NICT】
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分類 (1件):
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半導体薄膜 

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