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J-GLOBAL ID:201702251415775216   整理番号:17A0361470

InGaAsP MBEにより成長させたに及ぼす急速熱アニーリングの著しい影響:材料と光起電素子【Powered by NICT】

The striking influence of rapid thermal annealing on InGaAsP grown by MBE: material and photovoltaic device
著者 (14件):
資料名:
巻: 458  ページ: 110-114  発行年: 2017年 
JST資料番号: B0942A  ISSN: 0022-0248  資料種別: 逐次刊行物 (A)
記事区分: 原著論文  発行国: オランダ (NLD)  言語: 英語 (EN)
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急速熱アニーリング(RTA)を,分子ビームエピタクシーにより成長させた1eVのバンドギャップエネルギーをもつInGaAsP太陽電池について行った。最適条件下でRTAの採用で,開放電圧は0.45から0.5Vへ増加し,光電変換効率は11.87 13.2%からそれぞれ増加した,これはp型InGaAsPの結晶品質向上,空乏領域内の減少した再結合電流に起因した。p型InGaAsPの積分光ルミネセンス(PL)強度は800°Cでのアニーリング後に166倍に増加し,そのPL減衰時間は1桁増加した。が名目上非ドープおよびnドープInGaAsPの変化は無視できた。異なるドーピングタイプのInGaAsPへのRTAの効果の異なる挙動は高度に移動性の「活性化」p型InGaAsP中のベリリウム(Be)原子に起因していた。Copyright 2017 Elsevier B.V., Amsterdam. All rights reserved. Translated from English into Japanese by JST.【Powered by NICT】
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半導体薄膜  ,  13-15族化合物を含む半導体-半導体接合  ,  酸化物薄膜 
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