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J-GLOBAL ID:201702251440558083   整理番号:17A0668351

ファンアウトパネルレベルパッケージングの可能性と挑戦【Powered by NICT】

Potential and challenges of fan-out panel level packaging
著者 (9件):
資料名:
巻: 2016  号: ICSJ  ページ: 132-136  発行年: 2016年 
JST資料番号: W2441A  資料種別: 会議録 (C)
記事区分: 原著論文  発行国: アメリカ合衆国 (USA)  言語: 英語 (EN)
抄録/ポイント:
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ファンアウトウエハレベルパッケージング(FOWLP)は,マイクロエレクトロニクスの最新包装の傾向の一つである。技術は,パッケージ容量に関する有意なパッケージ小型化だけでなく厚さの高い可能性を有している。製造は現在それぞれ12」/300mmと330mmまでのウエハレベルで行った。高生産性と低コストのために近い将来予測される大きな形状因子。450mmウエハレベルアプローチを追跡する代わりに,パネルレベルパッケージングは次の大きなステップとなるであろう。パネルのサイズは最大18」×24」,又は,例えばプリント回路基板からの異なる技術の影響も大きく,太陽またはLCD製造の可能性がある。しかし,ウエハパネルレベルから移動するとき技術の容易なスケールアップは不可能である材料,装置及びプロセスを,さらに開発しまたは少なくとも適応しなければならない。パネルレベルパッケージングのための技術の現状の概要を詳細に示し,議論する予定である。Copyright 2017 The Institute of Electrical and Electronics Engineers, Inc. All Rights reserved. Translated from English into Japanese by JST【Powered by NICT】
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, 【Automatic Indexing@JST】
分類 (2件):
分類
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固体デバイス製造技術一般  ,  プリント回路 
タイトルに関連する用語 (1件):
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