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J-GLOBAL ID：201702251700209565   整理番号：17A1444476

ナノビームX線回折によるウルツ鉱型GaAsナノワイヤにおける個々の積層欠陥の特性化【Powered by NICT】

Characterization of individual stacking faults in a wurtzite GaAs nanowire by nanobeam X-ray diffraction

著者 (11件)： Davtyan Arman (Faculty of Science and Engineering, University of Siegen, D-57068Siegen, Germany) ,  Lehmann Sebastian (Department of Solid State Physics/NanoLund, Lund University, Box 118, S-22100Lund, Sweden) ,  Kriegner Dominik (Department of Condensed Matter Physics, Charles University, Ke Karlovu 5, 121 16Praha, Czech Republic) ,  Zamani Reza R. (Department of Solid State Physics/NanoLund, Lund University, Box 118, S-22100Lund, Sweden) ,  Dick Kimberly A. (Department of Solid State Physics/NanoLund, Lund University, Box 118, S-22100Lund, Sweden) ,  Dick Kimberly A. (Center for Analysis and Synthesis, Lund University, Box 124, S-22100Lund, Sweden) ,  Bahrami Danial (Faculty of Science and Engineering, University of Siegen, D-57068Siegen, Germany) ,  Al-Hassan Ali (Faculty of Science and Engineering, University of Siegen, D-57068Siegen, Germany) ,  Leake Steven J. (ESRF - The European Synchrotron, 71 Avenue des Martyrs, 38000Grenoble, France) ,  Pietsch Ullrich (Faculty of Science and Engineering, University of Siegen, D-57068Siegen, Germany) ,  Holy Vaclav (Department of Condensed Matter Physics, Charles University, Ke Karlovu 5, 121 16Praha, Czech Republic)
資料名： Journal of Synchrotron Radiation  (Journal of Synchrotron Radiation)
巻： 24  号： 5  ページ： 981-990  発行年： 2017年 
JST資料番号： W0763A  ISSN： 0909-0495  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 有機金属気相エピタクシーにより成長させた二個のウルツ鉱型GaAsナノワイヤの成長方向に沿った型,量および積層欠陥間の相対距離を測定するために使用したコヒーレントX線回折。提示した手法は,Patterson関数の一般的性質,電子密度の自己相関と同様に物体の回折強度分布のFourier変換に基づいている。部分Patterson関数はウルツ鉱型Braggピーク近傍の方向に沿って測定した回折強度から抽出した。Patterson関数の最大値は単原子二分子層の感度を用いた断層面間の距離と断層面の型の両方をコードする。断層面の位置は,Patterson関数の最大値の位置と形状から推定した,それらは同じナノワイヤの透過型電子顕微鏡で見られた位置と良く一致した。Copyright 2017 Wiley Publishing Japan K.K. All Rights reserved. Translated from English into Japanese by JST.【Powered by NICT】

シソーラス用語： *ヒ化ガリウム ,  透過型電子顕微鏡 ,  Patterson関数 ,  *ナノワイヤ ,  Fourier変換 ,  MOCVD ,  *X線回折 ,  電子密度 ,  形態 ,  *積層欠陥 ,  二分子層 ,  コヒーレンス
準シソーラス用語： 断層面 ,  回折強度 ,  *ウルツ鉱 , 【Automatic Indexing@JST】

著者キーワード (4件)： 積層欠陥 ,  Patterson関数 ,  ナノワイヤ ,  コヒーレントナノビームX線回折

分類 (1件)： X線回折法  (BK01020I)

タイトルに関連する用語 (7件)： ナノビーム ,  X線回折 ,  ウルツ鉱 ,  GaAs ,  ナノワイヤ ,  積層欠陥 ,  特性化