文献

J-GLOBAL ID：201702251751010763   整理番号：17A1646166

ヒトウェアラブルデバイスにおけるESDストレス電流の特性化【Powered by NICT】

Characterizing ESD stress currents in human wearable devices

著者 (3件)： Patnaik Abhishek (Missouri University of Science and Technology, Rolla, MO, 65409) ,  Hua Runbing (Missouri University of Science and Technology, Rolla, MO, 65409) ,  Pommerenke David (Missouri University of Science and Technology, Rolla, MO, 65409)
資料名： IEEE Conference Proceedings  (IEEE Conference Proceedings)
巻： 2017  号： EOS/ESD  ページ： 1-6  発行年： 2017年 
JST資料番号： W2441A  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 原著論文  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： ヒトウェアラブルデバイスICの入出力に誘起される電流過渡事象検出とレベル検出が可能なウェアラブルデバイスとしてICを用いて予測した。試験ICを用いたこの擬似ウェアラブルデバイスのESDは種々の試験シナリオのための特性化と予測と比較した。Copyright 2017 The Institute of Electrical and Electronics Engineers, Inc. All Rights reserved. Translated from English into Japanese by JST【Powered by NICT】

シソーラス用語： *電流 ,  *キャラクタリゼーション
準シソーラス用語： *ウェアラブルデバイス ,  イベント検出 , 【Automatic Indexing@JST】

分類 (1件)： 入出力装置  (JC04050U)

タイトルに関連する用語 (3件)： ESD ,  ストレス ,  特性化