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J-GLOBAL ID：201702252468875848   整理番号：17A0889987

フリップチップ発光ダイオードにおける不均一接合温度を検出するための過渡的光放出顕微鏡法【Powered by NICT】

Transient light emission microscopy for detecting the non-uniform junction temperature in flip-chip light emitting diodes

著者 (2件)： Tao Mian (Department of Mechanical & Aerospace Engineering, Center for Advanced Microsystems Packaging, HKUST LED-FPD Technology R&D Center at Foshan, The Hong Kong University of Science and Technology, Clear Water Bay, Kowloon, Hong Kong) ,  Lee S. W. Ricky (Department of Mechanical & Aerospace Engineering, Center for Advanced Microsystems Packaging, HKUST LED-FPD Technology R&D Center at Foshan, The Hong Kong University of Science and Technology, Clear Water Bay, Kowloon, Hong Kong)
資料名： IEEE Conference Proceedings  (IEEE Conference Proceedings)
巻： 2017  号： SEMI-THERM  ページ： 297-301  発行年： 2017年 
JST資料番号： W2441A  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 原著論文  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 不均一接合温度は,フリップチップ構造の高出力発光ダイオード(LED)に存在するかもしれない。チップ上の局所ホットエリアを検出LED熱管理にとって非常に重要である。接合温度が高くなると最も一般的なLEDは低い順方向電圧を示した。局所順方向電圧偏差は不均一電流分布につながり,結果として光分布に影響を与える。本論文では,この固有の熱-電気特性を利用して提案したホットスポット検出法。チップ上の過渡的光放出分布は,システム一般的な顕微鏡と光学センサから構成されるにより測定した。空間解を実用化に充分であった。実験は異なるLEDチップ上で行った。チップボンディングパッドの異なるパターンにより生成される種々の接合温度分布。測定結果は,局所高温領域は,より高い光強度を持つことを示唆する。提案した方法は,LEDチップにおける局所ホットエリアの位置を検出するために使用できる。Copyright 2017 The Institute of Electrical and Electronics Engineers, Inc. All Rights reserved. Translated from English into Japanese by JST【Powered by NICT】

シソーラス用語： *発光 ,  *顕微鏡 ,  熱管理 ,  *フリップチップ法 ,  電気特性 ,  *顕微鏡観察 ,  光センサ ,  電圧 ,  *発光ダイオード ,  ホットスポット ,  高温 ,  電流分布
準シソーラス用語： 光強度 ,  高出力 ,  *接合温度 , 【Automatic Indexing@JST】

分類 (1件)： 発光素子  (NC03082G)

タイトルに関連する用語 (6件)： フリップチップ ,  発光ダイオード ,  不均一 ,  接合温度 ,  光放出 ,  顕微鏡法