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J-GLOBAL ID：201702252843117938   整理番号：17A0882383

X線計算機トモグラフィーを用いたSOFC電極の定量化中間周波数不均一性【Powered by NICT】

Quantifying intermediate-frequency heterogeneities of SOFC electrodes using X-ray computed tomography

著者 (9件)： Epting William K. (Department of Mechanical Engineering, Carnegie Mellon University, Pittsburgh, Pennsylvania) ,  Mansley Zachary (Department of Material Science and Engineering, Carnegie Mellon University, Pittsburgh, Pennsylvania) ,  Menasche David B. (Department of Physics, Carnegie Mellon University, Pittsburgh, Pennsylvania) ,  Kenesei Peter (X-ray Science Division, Advanced Photon Source, Argonne National Laboratory, Argonne, Illinois) ,  Suter Robert M. (Department of Physics, Carnegie Mellon University, Pittsburgh, Pennsylvania) ,  Gerdes Kirk (U.S. Department of Energy, National Energy Technology Laboratory, Morgantown, West Virginia) ,  Litster Shawn (Department of Mechanical Engineering, Carnegie Mellon University, Pittsburgh, Pennsylvania) ,  Litster Shawn (Department of Material Science and Engineering, Carnegie Mellon University, Pittsburgh, Pennsylvania) ,  Salvador Paul A. (Department of Material Science and Engineering, Carnegie Mellon University, Pittsburgh, Pennsylvania)
資料名： Journal of the American Ceramic Society  (Journal of the American Ceramic Society)
巻： 100  号： 5  ページ： 2232-2242  発行年： 2017年 
JST資料番号： C0253A  ISSN： 0002-7820  CODEN： JACTAW  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 固体酸化物燃料電池(SOFC)の電極は,三次元の相互接続した三相から成っていた。このような微細構造を定量的に記述するのに必要な体積は,いくつかの長さスケール,材料特性と加工法の関数であるに依存する。本研究では,二つの異なる長さスケールでX線計算機トモグラフィー(CT)を用いて市販SOFCの電極における「中間周波数」不均一性を表現するのに必要な量を定量化することに焦点を当てた。150×150×9μmの電極体積はシンクロトロンマイクロCTデータセットから抽出した,1~3μm~3ボクセルであった。カソードの13.6×19.8×19.4μmとアノードの26.3×24.8×15.7μmを実験室ナノCTデータセットから抽出した,65~3nm~3ボクセルとした。マイクロCTからのグレースケール値,CTからの相分率と三相境界密度のためのサブ領域間の変動を比較した後に,それは統計的に類似した平均値を与えるのに必要なサブ領域の長さスケールは,電極における三相の離散的性質に関連した「高周波」不均一性を捕捉するために期待されるものよりも一桁大きいことが分かった。利用可能な実験法を用いてこのような電極を定量化するための課題を検討した。Copyright 2017 Wiley Publishing Japan K.K. All Rights reserved. Translated from English into Japanese by JST.【Powered by NICT】

シソーラス用語： 三次元 ,  HF【周波数】 ,  *X線CT ,  ボクセル ,  相互接続 ,  *中間周波数 ,  グレースケール ,  シンクロトロン ,  *不均一性 ,  相境界 ,  微細構造
準シソーラス用語： X線マイクロトモグラフィー ,  材料特性 ,  長さスケール ,  三相 , 【Automatic Indexing@JST】

著者キーワード (5件)： 及ぼす金属 ,  oxides ,  多孔質材料 ,  固体酸化物燃料電池 ,  X線計算機トモグラフィー

分類 (2件)： セラミック・陶磁器の製造  (YC03020V) ,  セラミック・磁器の性質  (YC03030G)

タイトルに関連する用語 (5件)： X線計算機トモグラフィー ,  SOFC ,  定量化 ,  中間周波数 ,  不均一性