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J-GLOBAL ID:201702253918326953   整理番号:17A1723398

基本的にシリコンマイクロリングにおけるキャンセル後方散乱【Powered by NICT】

Fundamentally cancel backscattering in silicon microrings
著者 (2件):
資料名:
巻: 2017  号: CLEO/Europe-EQEC  ページ:発行年: 2017年 
JST資料番号: W2441A  資料種別: 会議録 (C)
記事区分: 原著論文  発行国: アメリカ合衆国 (USA)  言語: 英語 (EN)
抄録/ポイント:
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シリコンマイクロリングは,多くの光学的応用におけるその価値を証明した。通常,それらのための望ましい高Q因子,非常に狭い線幅を示した。しかし,側壁粗さが,後方散乱を誘導するので,共鳴分裂を促進する頻繁にするが,これはリング導波路[1]における時計回り(CW)及び反時計回り(CCW)伝搬モードを結合している。結果としてそれらの縮退は破壊される。共鳴分裂は,ほとんどすべてのマイクロリングに基づくアプリケーションの問題がある。分割は共鳴線幅広がりにより避けることができる場合でも,アドポートに後方反射の港湾と望ましくない透過には不可避である。これら二つの効果は大規模回路における不要intereferencesの原因となり,レーザ不安定性を引き起こす可能性がある。Copyright 2017 The Institute of Electrical and Electronics Engineers, Inc. All Rights reserved. Translated from English into Japanese by JST【Powered by NICT】
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, 【Automatic Indexing@JST】
分類 (2件):
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その他の光伝送素子  ,  光変調器 
タイトルに関連する用語 (2件):
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