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J-GLOBAL ID：201702254345110395   整理番号：17A1557685

低対称性結晶多相材料におけるナノロッドの高さと幅を推定するためのX線回折解析の適用【Powered by NICT】

Applying the X-ray diffraction analysis for estimating the height and width of nanorods in low symmetry crystal multiphase materials

著者 (4件)： Mokhtari Ali (Department of Physics, Faculty of Sciences, Shahrekord University, P.O. Box 115, Shahrekord, Iran) ,  Soleimanian Vishtasb (Department of Physics, Faculty of Sciences, Shahrekord University, P.O. Box 115, Shahrekord, Iran) ,  Dehkordi Hamed Aleebrahim (Department of Physics, Faculty of Sciences, Shahrekord University, P.O. Box 115, Shahrekord, Iran) ,  Dastafkan Kamran (Solid State Nanomaterials Research Group, Research Center for Nanotechnology, KAVA Research Institute (KRI), Tehran, Iran)
資料名： Journal of Crystal Growth  (Journal of Crystal Growth)
巻： 478  ページ： 58-63  発行年： 2017年 
JST資料番号： B0942A  ISSN： 0022-0248  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： オランダ (NLD)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 本研究ではRietveld精密化法のポテンシャルを用いて,非球状ナノ結晶の形状とサイズを調べることである。このアプローチの主な利点は,様々な結晶対称性を持つすべてのナノ材料に拡張できる,電子顕微鏡法と比較して,複数の材料の種々の相を評価することができるが,ことである。,七つの結晶系の間の,単斜晶および六方晶結晶の定式化を開発した。手順をドープしたガドリニウム酸化物の異なる画分で炭酸ナトリウムと酸化亜鉛ナノ結晶の混合物に適用した。炭酸ナトリウムと酸化亜鉛の微結晶はロッドと楕円形状をしたことが分かった。微細構造の結果は,走査電子顕微鏡画像の結果と比較した。走査型電子顕微鏡法とRietveld法の結果の間の良い一致を達成した。Copyright 2017 Elsevier B.V., Amsterdam. All rights reserved. Translated from English into Japanese by JST.【Powered by NICT】

シソーラス用語： 微細構造 ,  六方晶系 ,  ナノ結晶 ,  炭酸ナトリウム ,  電子顕微鏡観察 ,  *ナノロッド ,  形態 ,  *対称性 ,  酸化亜鉛 ,  *X線回折 ,  ドーピング ,  *結晶 ,  単斜晶系 ,  Rietveld法
準シソーラス用語： 走査電子顕微鏡法 , 【Automatic Indexing@JST】

著者キーワード (5件)： Nanorods ,  Rietveld精密化 ,  多相材料 ,  SEM ,  低対称性結晶

分類 (1件)： 酸化物の結晶成長  (BK13050I)

タイトルに関連する用語 (7件)： 対称性 ,  結晶 ,  多相 ,  ナノロッド ,  推定 ,  X線回折 ,  解析