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J-GLOBAL ID：201702254779557851   整理番号：17A1570397

電界放出電子顕微鏡開発と陰極放射率【Powered by NICT】

Field-emission electron microscope development and cathode emittance

著者 (3件)： Enderich D. (Department of Electrical and Computer Engineering, University of Wisconsin-Madison, Madison, Wisconsin, USA) ,  Booske J. (Department of Electrical and Computer Engineering, University of Wisconsin-Madison, Madison, Wisconsin, USA) ,  Behdad N. (Department of Electrical and Computer Engineering, University of Wisconsin-Madison, Madison, Wisconsin, USA)
資料名： IEEE Conference Proceedings  (IEEE Conference Proceedings)
巻： 2017  号： IVNC  ページ： 260-261  発行年： 2017年 
JST資料番号： W2441A  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 原著論文  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 高出力,高周波真空電子デバイスは高輝度を必要とし,[1]低エミッタンス電子ビームを操作した。これらの要求を満たすために,熱電子陰極は迅速なターンオン,寿命,迅速放出ゲート,ヒータ電力要求のシステム非効率性と挑戦に遭遇する。電界放出カソードは,百時間のための十分な電流を提供するが,典型的には熱電子陰極よりも高いエミッタンスのビームを生成することができる。この高いエミッタンスの原因を理解し,軽減するために,電界放出電子顕微鏡,ペッパーポットマスクと蛍光体被覆マイクロチャネルプレート周辺の実験システムを構築している。Copyright 2017 The Institute of Electrical and Electronics Engineers, Inc. All Rights reserved. Translated from English into Japanese by JST【Powered by NICT】

シソーラス用語： *放射率 ,  電流 ,  ターンオン ,  蛍光体 ,  エミッタンス ,  *電界放出 ,  加熱器 ,  被覆 ,  電子ビーム ,  *電子顕微鏡 ,  電力 ,  マイクロチャネルプレート
準シソーラス用語： 熱陰極 ,  高輝度 ,  高出力 , 【Automatic Indexing@JST】

分類 (2件)： 加速器一般及び理論  (BE02010M) ,  電子ビーム,イオンビーム  (BD02030F)

タイトルに関連する用語 (3件)： 開発 ,  陰極 ,  放射率