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J-GLOBAL ID：201702255277447562   整理番号：17A1547000

二次元材料を用いた電子顕微鏡のプローブ形成システムの収差測定【Powered by NICT】

Aberration measurement of the probe-forming system of an electron microscope using two-dimensional materials

著者 (10件)： Sawada Hidetaka (Electron Physical Sciences Imaging Centre (ePSIC), Diamond Light Source Ltd, Didcot, Oxford OX11 0DE, UK) ,  Sawada Hidetaka (Department of Materials, University of Oxford, Parks Road, Oxford OX1 3PH, UK) ,  Sawada Hidetaka (JEOL UK Ltd., Silver Court Watchmead Welwyn Garden City, Herts AL7 1LT, UK) ,  Sawada Hidetaka (Research acceleration program, Japan Science and Technology Agency, K’s Gobancho, 7, Gobancho, Chiyoda-ku, Tokyo 102-0076, Japan) ,  Allen Christopher S. (Electron Physical Sciences Imaging Centre (ePSIC), Diamond Light Source Ltd, Didcot, Oxford OX11 0DE, UK) ,  Allen Christopher S. (Department of Materials, University of Oxford, Parks Road, Oxford OX1 3PH, UK) ,  Wang Shanshan (Department of Materials, University of Oxford, Parks Road, Oxford OX1 3PH, UK) ,  Warner Jamie H. (Department of Materials, University of Oxford, Parks Road, Oxford OX1 3PH, UK) ,  Kirkland Angus I. (Electron Physical Sciences Imaging Centre (ePSIC), Diamond Light Source Ltd, Didcot, Oxford OX11 0DE, UK) ,  Kirkland Angus I. (Department of Materials, University of Oxford, Parks Road, Oxford OX1 3PH, UK)
資料名： Ultramicroscopy  (Ultramicroscopy)
巻： 182  ページ： 195-204  発行年： 2017年 
JST資料番号： W0972A  ISSN： 0304-3991  CODEN： ULTRD  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： オランダ (NLD)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 収差補正透過型電子顕微鏡におけるプローブ形成システムの幾何学的および色収差係数は単層グラフェンから記録されたRonchigramを用いて測定した。Ronchigramの個々の局所的角度領域内の幾何学的変形を自己相関関数を用いて解析し,プローブ形成レンズの収差係数を計算した。この方法は収差係数の迅速な測定を可能にする単一Ronchigramの獲得を必要とするだけである。さらに,焦点ずれと2倍非点収差の測定精度は,非晶質膜から記録したロンチグラムの解析から達成できるよりも改善された。この技術も六方晶二次元材料の収差補正STEMイメージングに適用することができる。Copyright 2017 Elsevier B.V., Amsterdam. All rights reserved. Translated from English into Japanese by JST.【Powered by NICT】

シソーラス用語： *プローブ ,  色収差 ,  *収差 ,  六方晶系 ,  *二次元 ,  非点収差 ,  収差補正 ,  画像処理 ,  自己相関関数 ,  *電子顕微鏡 ,  測定精度 ,  透過型電子顕微鏡 ,  レンズ
準シソーラス用語： 単層グラフェン ,  *収差測定 , 【Automatic Indexing@JST】

著者キーワード (5件)： 幾何学的収差 ,  色収差 ,  STEM ,  Ronchigram ,  収差補正器

分類 (1件)： 顕微鏡法  (BK01040E)

タイトルに関連する用語 (5件)： 二次元材料 ,  電子顕微鏡 ,  プローブ ,  形成システム ,  収差測定