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J-GLOBAL ID:201702255758186979   整理番号:17A1498814

グリッドの幅のためのサブピクセル測定システムと改良された部分領域効果に基づく期間【Powered by NICT】

Sub-pixel measurement system for grid’s width and period based on an improved partial area effect
著者 (2件):
資料名:
巻: 404  ページ: 124-131  発行年: 2017年 
JST資料番号: A0678B  ISSN: 0030-4018  資料種別: 逐次刊行物 (A)
記事区分: 原著論文  発行国: オランダ (NLD)  言語: 英語 (EN)
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電荷結合素子(CCD)の部分領域効果に基づいて,幅と金属格子の周期を測定するために提案したサブピクセル線検出アルゴリズム。開発し線幅と格子の周期を正確に測定することである光学ポインティングシステム。グリッドの動画像を開発したシステムによって捕捉される。得られた画像から,サブピクセル分解能で線の位置を決定することができる。グリッドの動きを制御することにより,グリッドを目指し,格子定規の絶対座標を得た。模擬計算と実験は,記録したビデオ画像を用いて行った提案したアルゴリズムの性能を検証した。結果は,提案した推定アルゴリズムの精度は動画像のための0.025画素に達することができることを示した。Copyright 2017 Elsevier B.V., Amsterdam. All rights reserved. Translated from English into Japanese by JST.【Powered by NICT】
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, 【Automatic Indexing@JST】
分類 (4件):
分類
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光デバイス一般  ,  光の散乱,回折,干渉  ,  図形・画像処理一般  ,  光学情報処理 
タイトルに関連する用語 (3件):
タイトルに関連する用語
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