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J-GLOBAL ID：201702257357598282   整理番号：17A0911298

シリコン上の高性能2段階レシオメトリック波長モニターを統合【Powered by NICT】

Integrated High-Performance Two-Stage Ratiometric Wavelength Monitors On Silicon

著者 (7件)： Wang Gencheng (College of Information Science and Electronic Engineering, Zhejiang University, Hangzhou, China) ,  Dai Tingge (College of Information Science and Electronic Engineering, Zhejiang University, Hangzhou, China) ,  Chen Weiwei (College of Information Science and Engineering, Ningbo University, Ningbo, China) ,  Wang Yuehai (College of Information Science and Electronic Engineering, Zhejiang University, Hangzhou, China) ,  Li Yubo (College of Information Science and Electronic Engineering, Zhejiang University, Hangzhou, China) ,  Jiang Xiaoqing (College of Information Science and Electronic Engineering, Zhejiang University, Hangzhou, China) ,  Yang Jianyi (College of Information Science and Electronic Engineering, Zhejiang University, Hangzhou, China)
資料名： IEEE Photonics Technology Letters  (IEEE Photonics Technology Letters)
巻： 29  号： 10  ページ： 810-813  発行年： 2017年 
JST資料番号： T0721A  ISSN： 1041-1135  CODEN： IPTLEL  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： シリコン上の集積高速二段階レシオメトリック波長モニタ(RMWMs)を設計し作製した。第一段階は,エッジフィルタとして作用する二不平衡Mach-Zehnder干渉計に基づく広い作動範囲と低密度波長モニターである。第二段階はedgefiltersとして作用する二可変同調マイクロリングを用いたピコメータ波長分解能を持つ微細波長モニターである。最高測定波長分解能は微細波長モニタのための7nmの広い波長範囲で1.6pMに達した。動作波長範囲は粗波長モニタのための0.1nmの分解能で約55nmに達した。マイクロリングの共振波長を調整する熱により,マイクロリングの全,9.6nm自由スペクトル範囲で高分解能を得ることができる。温度の摂動の影響についても考察した。従来RMWMで互いに測定可能な波長範囲と分解能を制限する問題を解くことができる。Copyright 2017 The Institute of Electrical and Electronics Engineers, Inc. All Rights reserved. Translated from English into Japanese by JST【Powered by NICT】

シソーラス用語： スペクトル ,  *監視装置 ,  *ケイ素 ,  高分解能 ,  分解能 ,  *波長 ,  干渉計 ,  高速度
準シソーラス用語： 共鳴波長 ,  可変同調 ,  低密度 ,  エッジフィルタ , 【Automatic Indexing@JST】

分類 (1件)： 光通信方式・機器  (ND10000B)

タイトルに関連する用語 (6件)： シリコン ,  高性能 ,  段階 ,  波長 ,  モニター ,  統合