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J-GLOBAL ID：201702258061147952   整理番号：17A0594650

収差補正走査透過型電子顕微鏡によるパイロクロアのイオントラック形態に関する新しい洞察

New insights on ion track morphology in pyrochlores by aberration corrected scanning transmission electron microscopy

著者 (9件)： SACHAN Ritesh (Oak Ridge National Lab., TN) ,  ZHANG Yanwen (Oak Ridge National Lab., TN) ,  ZHANG Yanwen (Univ. Tennessee, TN) ,  OU Xin (Helmholtz-Zentrum Dresden-Rassendorf, Dresden, DEU) ,  TRAUTMANN Christina (GSI Helmholtzzentrum fuer Schwerionenforschung GmbH, Darmstadt, DEU) ,  TRAUTMANN Christina (Technische Univ. Darmstadt, Darmstadt, DEU) ,  CHISHOLM Matthew F. (Oak Ridge National Lab., TN) ,  WEBER William J. (Oak Ridge National Lab., TN) ,  WEBER William J. (Univ. Tennessee, TN)
資料名： Journal of Materials Research  (Journal of Materials Research)
巻： 32  号： 5  ページ： 928-935  発行年： 2017年03月14日 
JST資料番号： D0987B  ISSN： 0884-2914  CODEN： JMREEE  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： チタン酸ガドリニウムなどパイロクロアは,放射性廃棄物の固定化のための有力な候補材料である。パイロクロアの照射ダメージを理解するためには,高エネルギーイオンとの相互作用による原子再配列と不規則化を理解することが重要である。また,今日まで収差補正走査透過型電子顕微鏡(AC-STEM)を使ったイオン照射材料の研究は,報告されていない。そこで本研究では,チタン酸ガドリニウムなどパイロクロアを対象として,検出器の収集角度を変えることによって得られた画像の詳細を比較し,原子レベルのイオントラック形態を明らかにした。その結果,1)この研究は,AC-STEMを使ったイオントラック形態の洞察と量的解析の方法を提案した。2)STEMの高角度環状暗視野撮像(HAADF)用いた位相識別の定量分析を,チタン酸ガドリニウムのイオンエネルギー損失の関数としてトラック形態的変化を理解するのに使用した。3)Zコントラスト依存画像解析法は,原子スケールの規則-不規則転移を識別できることが分かった。などの知見を得た。

シソーラス用語： *イオン照射 ,  *照射損傷 ,  原子-イオン衝突 ,  相互作用 ,  配列 ,  秩序無秩序転移 ,  *パイロクロア型結晶 ,  チタン酸塩 ,  ガドリニウム化合物 ,  ジルコニウム酸塩 ,  収差補正 ,  透過型走査電子顕微鏡 ,  視野 ,  大角散乱 ,  定量分析 ,  エネルギー損失 ,  コントラスト
準シソーラス用語： HAADF-STEM ,  イオン-固体相互作用 ,  暗視野 ,  規則不規則変態 ,  再配列 ,  統計学的画像解析法

分類 (2件)： セラミック・磁器の性質  (YC03030G) ,  その他の物質の放射線による構造と物性の変化  (BK16124V)

タイトルに関連する用語 (6件)： 収差補正 ,  走査透過型電子顕微鏡 ,  パイロクロア ,  イオントラック ,  形態 ,  洞察