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J-GLOBAL ID：201702258720927307   整理番号：17A0964839

劣化効果の相互依存性と計算へのそれらの影響【Powered by NICT】

Interdependencies of Degradation Effects and Their Impact on Computing

著者 (3件)： Amrouch Hussam (Karlsruhe Institute of Technology (KIT), Karlsruhe, Germany) ,  van Santen Victor M. (Karlsruhe Institute of Technology) ,  Henkel Jorg (Karlsruhe Institute of Technology)
資料名： IEEE Design & Test  (IEEE Design & Test)
巻： 34  号： 3  ページ： 59-67  発行年： 2017年 
JST資料番号： B0007C  ISSN： 2168-2356  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 老化と摩耗,編集者のノート:プロセス変動は準最適システム性能と電力の増加をもたらすことを非理想性である。これらの劣化効果の影響を理解するために,これまで,研究者は,完全に,が互いにを別々に調べた。本論文が示すプロセス変動と摩耗は互いに独立していないことであり,それは一体化して考慮する必要がある。は,それらが,時折,安全設計マージンを低減するこれらの相互依存性を利用することができるか設計者を示したが,他のケースでは,相互依存性を劣化効果の影響を増幅する壊滅的な方法で要請を充たすことが可能である。バージニアのMircea Stan大学Copyright 2017 The Institute of Electrical and Electronics Engineers, Inc. All Rights reserved. Translated from English into Japanese by JST【Powered by NICT】

シソーラス用語： 電力 ,  *安全設計 ,  バージニア州
準シソーラス用語： システム性能 ,  プロセス変動 ,  *相互依存性 , 【Automatic Indexing@JST】

分類 (2件)： 固体デバイス計測・試験・信頼性  (NC03040G) ,  集積回路一般  (NC03161C)

タイトルに関連する用語 (2件)： 相互依存性 ,  計算