Rossetto I. について
Department of Information Engineering, University of Padua, Padua, Italy について
Meneghini M. について
Department of Information Engineering, University of Padua, Padua, Italy について
Pandey S. について
NXP Semiconductors, BL PowerMOS, Stockport, SK7 5BJ, U.K. について
Gajda M. について
NXP Semiconductors, BL PowerMOS, Stockport, SK7 5BJ, U.K. について
Hurkx G. A. M. について
NXP Semiconductors, Eindhoven, AE, The Netherlands. について
Croon J. A. について
NXP Semiconductors, Eindhoven, AE, The Netherlands. について
Sonsky J. について
NXP Semiconductors, Leuven, Belgium について
Meneghesso G. について
Department of Information Engineering, University of Padua, Padua, Italy について
Zanoni E. について
Department of Information Engineering, University of Padua, Padua, Italy について
IEEE Transactions on Electron Devices について
窒化ケイ素 について
二次元 について
エレクトロルミネセンス について
絶縁破壊 について
チャネル について
シミュレーション について
窒化ガリウム について
信頼性 について
トランジスタ について
透過型電子顕微鏡 について
ホットスポット について
電場 について
故障解析 について
不動態化 について
絶縁破壊電圧 について
トランジスタ について
GaN について
SIH について
EMT について
破壊 について
幾何学 について
不動態化 について
依存性 について