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J-GLOBAL ID：201702259224962681   整理番号：17A1273599

シミュレーション,形式的検証およびエミュレーションのための自動表明生成【Powered by NICT】

Automatic Assertion Generation for Simulation, Formal Verification and Emulation

著者 (3件)： Zhang Tong ,  Saab Daniel ,  Abraham Jacob A.
資料名： IEEE Conference Proceedings  (IEEE Conference Proceedings)
巻： 2017  号： ISVLSI  ページ： 471-476  発行年： 2017年 
JST資料番号： W2441A  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 原著論文  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 検証は集積回路(IC)設計プロセスにおける重要な段階である。設計を検証するために,設計に基づいた主張のセットを発生させた。設計は,シミュレーションや形式的ツール用いて,設計は生成されたアサーションを破らないことを確認するためにチェックした。アサーションのいずれかが破られているならば,設計バグが検出された。検証の品質は,アサーションのセットと設計機能のそれらがカバーどの程度に直接関係している。本論文では,セット高品質設計アサーションを自動生成する方法を提案した。法は設計記述と自動テストパターン生成(ATPG)に基づいている。提案した方法は設計入力空間の100%をカバーし,多重クロックサイクルにできると考えられる設計アサーションを生成する。著者らの実験では,OpenCoresからUSB2.0モデルの性質/アサーションを生成した。これらの主張は小型であり,各ターゲットノードの100%入力空間被覆率を提供した。Copyright 2017 The Institute of Electrical and Electronics Engineers, Inc. All Rights reserved. Translated from English into Japanese by JST【Powered by NICT】

シソーラス用語： 品質設計 ,  多重化 ,  *エミュレーション ,  被覆率 ,  ソフトウェア障害 ,  集積回路 ,  品質
準シソーラス用語： ATPG ,  テストパターン生成 ,  自動生成 ,  アサーション ,  *形式的検証 , 【Automatic Indexing@JST】

分類 (2件)： 固体デバイス計測・試験・信頼性  (NC03040G) ,  半導体集積回路  (NC03162T)

タイトルに関連する用語 (3件)： シミュレーション ,  形式的検証 ,  エミュレーション