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J-GLOBAL ID：201702260995521357   整理番号：17A0571213

5 MeV C₆₀⁺イオンを用いたペプチドの透過型二次イオン質量分析

著者 (1件)： 中嶋薫 (京都大学大学院・工学研究科マイクロエンジニアリング専攻)
資料名： 電気学会論文誌 C  (IEEJ Transactions on Electronics, Information and Systems)
巻： 137  号： 3  ページ： 411-417(J-STAGE)  発行年： 2017年 
JST資料番号： S0810A  ISSN： 0385-4221  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： 日本 (JPN)  言語： 日本語 (JA)

抄録/ポイント： 5MeVの高速C₆₀⁺イオンを用いたペプチドの透過型二次イオン質量分析(SIMS)について検討した。近年,スタティックSIMSを用いて生体試料表面に存在する生体分子の面内分布をサブμmの空間分解能でイメージングする研究が盛んにおこなわれている。本研究では,窒化シリコンの自己支持膜上にフェニルアラニンを蒸着した薄膜上の試料にMeV級の高速C₆₀⁺イオンを透過させて前方に放出される二次イオンを検出する手法を,ペプチド(ロイシンエンケファリン)に適用し,分子イオン吸収の向上およびフラグメンテーションの抑制が得られるかどうかを調査した。その結果から得られた知見を提示した。

シソーラス用語： *二次イオン質量分析 ,  *ペプチド ,  エンケファリン ,  アミノ酸 ,  芳香族化合物 ,  第一アミン

著者キーワード (8件)： 二次イオン質量分析法 ,  C₆₀ ,  ペプチド ,  ロイシンエンケファリン ,  SIMS ,  C₆₀ ,  peptide ,  leucine-enkephalin

分類 (1件)： 質量分析計  (BD02060M)

物質索引 (2件)： ロイシンエンケファリン ,  フェニルアラニン

引用文献 (16件)：

• (1) D. ブリッグス・M. P. シーア編:「表面分析 : SIMS - 二次イオン質量分析法の基礎と応用 -」, 志水隆一・二瓶好正監訳, アグネ承風社 (2003)
• (2) A. Benninghoven : “Analysis of submonolayers on silver by negative secondary ion emission”, Phys. Status Solidi 34, pp. K169-K171 (1969)
• (3) F. Benabdellah, A. Seyer, L. Quinton, D. Touboul, A. Brunelle, and O. Laprevote : “Mass spectrometry imaging of rat brain sections: nanomolar sensitivity with MALDI versus nanometer resolution by TOF-SIMS”, Anal. Bioanal. Chem., Vol. 396, No. 1, pp. 151-162 (2010)
• (4) E. R. Amstalden van Hove, D. F. Smith, and R. M. A. Heeren : “A concise review of mass spectrometry imaging”, J. Chromatogr. A 1217, pp. 3946-3954 (2010)
• (5) M. J. van Stipdonk, R. D. Harris, and E. A. Schweikert : “A comparison of desorption yields from C₆₀⁺ to atomic and polyatomic projectiles at keV energies”, Rapid Commun. Mass Spectrom., Vol. 10, No. 15, pp. 1987-1991 (1996)

タイトルに関連する用語 (4件)： イオン ,  ペプチド ,  透過 ,  二次イオン質量分析