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J-GLOBAL ID：201702261526470084   整理番号：17A0445247

静電気力顕微鏡法を使用した多層グラフェンの固有仕事関数の推定【Powered by NICT】

Estimation of intrinsic work function of multilayer graphene by probing with electrostatic force microscopy

著者 (5件)： Singh Anshika (Department of Applied Physics, Delhi Technological University, Delhi, 110042, India) ,  Guha Puspendu (Institute of Physics, Sachivalaya Marg, Bhubaneswar, 751005, India) ,  Guha Puspendu (Homi Bhabha National Institute, Training School Complex, Anushakti Nagar, Mumbai, 400085, India) ,  Panwar Amrish K. (Department of Applied Physics, Delhi Technological University, Delhi, 110042, India) ,  Tyagi Pawan K. (Department of Applied Physics, Delhi Technological University, Delhi, 110042, India)
資料名： Applied Surface Science  (Applied Surface Science)
巻： 402  ページ： 271-276  発行年： 2017年 
JST資料番号： B0707B  ISSN： 0169-4332  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： オランダ (NLD)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 本研究では,静電気力顕微鏡法(EFM)を用いて,SiO_2(300nm)/Si(500μm)基板上に転写された数層のグラフェン(FLG)の固有の仕事関数を推定することである。FLGは機械的剥離法を用いて調製した。剥離したFLGでは,粘着性残基は常に表面にスコッチテープから残されている。これらの残基だけでなくSiO_2基板は表面上の双極子の形成に起因して仕事関数を改変することができた。接着剤の影響を考慮して,FLGは予備チャージおよび,dc電圧でバイアスしたチップを用いた走査した。FLGの固有の仕事関数を測定し,4.52±0.1eVであることが分かった。Copyright 2017 Elsevier B.V., Amsterdam. All rights reserved. Translated from English into Japanese by JST.【Powered by NICT】

シソーラス用語： 充電 ,  電圧 ,  *仕事関数 ,  双極子 ,  顕微鏡観察 ,  *グラフェン ,  接着剤 ,  表面電位
準シソーラス用語： *静電気力 ,  粘着性 ,  *多層グラフェン ,  *静電力顕微鏡 , 【Automatic Indexing@JST】

著者キーワード (4件)： 静電気力MicroscopyElectrostatic力顕微鏡観察 ,  表面電位 ,  少数層グラフェン ,  機械的剥離

分類 (3件)： 顕微鏡法  (BK01040E) ,  界面の電気的性質一般  (BM03081H) ,  電子放出一般  (BM09010H)

タイトルに関連する用語 (5件)： 静電気力顕微鏡 ,  多層グラフェン ,  固有 ,  仕事関数 ,  推定