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J-GLOBAL ID：201702262654088853   整理番号：17A1185996

電界放出銃電子顕微鏡のための抽出電圧を用いた位相コントラストの可視性の推定【Powered by NICT】

Estimation of visibility of phase contrast with extraction voltages for field emission gun electron microscopes

著者 (1件)： Meng Xing (WsystemSolution, P.O.Box 3300 Latham, 12110-9998 NY, United States)
資料名： Ultramicroscopy  (Ultramicroscopy)
巻： 173  ページ： 14-15  発行年： 2017年 
JST資料番号： W0972A  ISSN： 0304-3991  CODEN： ULTRD  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： オランダ (NLD)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 推定は抽出電圧を変化させることによる位相コントラストの可視性のための行った。可視度の得られた減衰速度は低温EMからの低画像コントラストを持つ画像は高抽出電圧で深刻に影響することを示した。Copyright 2017 Elsevier B.V., Amsterdam. All rights reserved. Translated from English into Japanese by JST.【Powered by NICT】

シソーラス用語： *電界放出 ,  *可視度 ,  画像 ,  *電子顕微鏡 ,  *電圧 ,  低温
準シソーラス用語： 画像コントラスト ,  減衰率 ,  *位相コントラスト , 【Automatic Indexing@JST】

著者キーワード (3件)： 電子顕微鏡観察 ,  低温EM ,  位相コントラスト

分類 (2件)： X線技術  (BA02060D) ,  腫ようの診断  (GE03020J)

タイトルに関連する用語 (6件)： 電界放出 ,  銃 ,  電子顕微鏡 ,  位相コントラスト ,  可視性 ,  推定