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J-GLOBAL ID：201702262815602599   整理番号：17A1570056

オンチッププロセス監視回路を用いた高速SSTドライバの自己較正からのEMIコモンモード(CM)雑音の抑制【Powered by NICT】

EMI common-mode (CM) noise suppression from self-calibration of high-speed SST driver using on-chip process monitoring circuit

著者 (6件)： Maqbool Khawaja Qasim (High-Speed Silicon Lab, The Hong Kong University of Science and Technology, Clear Water Bay, Hong Kong) ,  Luo Duona (High-Speed Silicon Lab, The Hong Kong University of Science and Technology, Clear Water Bay, Hong Kong) ,  Zhu Guang (High-Speed Silicon Lab, The Hong Kong University of Science and Technology, Clear Water Bay, Hong Kong) ,  Luo Xingyun (Huawei Shenzhen, China) ,  Yu Huichun (Huawei Shenzhen, China) ,  Yue C. Patrick (High-Speed Silicon Lab, The Hong Kong University of Science and Technology, Clear Water Bay, Hong Kong)
資料名： IEEE Conference Proceedings  (IEEE Conference Proceedings)
巻： 2017  号： ISCAS  ページ： 1-4  発行年： 2017年 
JST資料番号： W2441A  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 原著論文  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 本論文では,65nm CMOSプロセスで設計し,シミュレートしたオンチッププロセス監視回路を用いた20Gb/sソース直列終端(SST)運転者の自己キャリブレーションからのCM雑音抑制技術を提案した。不平衡充電と放電ループは出力信号の不斉立上り時間と立下り時間をもたらし,CM雑音の固有の源である。SST運転者に対し,CM雑音効果は,特にプッシュプルNMOS配置によるプロセスコーナー変動の下で悪化している。オンチップセンサ回路は全温度範囲で全ての可能なプロセスコーナーを監視し,検出する。制御回路は,出力ドライバを自己較正15%高い対称上昇プロセスコーナー変動と結果を補償し,最悪ケースシナリオのための出力信号の時間に対するに動作する。シミュレーション結果は,提案した技術は電力オーバーヘッドなしに7.2x( 86%)によるピークCM雑音を低下させることを示す,背景モニタリングと自己較正方式である。Copyright 2017 The Institute of Electrical and Electronics Engineers, Inc. All Rights reserved. Translated from English into Japanese by JST【Powered by NICT】

シソーラス用語： *高速度 ,  電力 ,  *雑音 ,  制御回路 ,  雑音発生防止 ,  充電 ,  NMOS構造 ,  シミュレーション ,  放電
準シソーラス用語： 立上り時間 ,  出力信号 ,  自己キャリブレーション ,  *コモンモード ,  *プロセス監視 ,  *オンチップ , 【Automatic Indexing@JST】

分類 (2件)： 半導体集積回路  (NC03162T) ,  その他の電子回路  (NC05090X)

タイトルに関連する用語 (10件)： オンチップ ,  プロセス監視 ,  SST ,  ドライバ ,  自己 ,  較正 ,  EMI ,  コモンモード ,  Cm ,  雑音