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J-GLOBAL ID:201702262927410870   整理番号:17A1444602

ホロー陰極活性化PECVDプロセスを用いたけい素含有プラズマ高分子コーティングの障壁性能に適用されるパワーの影響【Powered by NICT】

Influence of the applied power on the barrier performance of silicon-containing plasma polymer coatings using a hollow cathode-activated PECVD process
著者 (4件):
資料名:
巻: 14  号:ページ: ROMBUNNO.201700016  発行年: 2017年 
JST資料番号: W1950A  ISSN: 1612-8850  資料種別: 逐次刊行物 (A)
記事区分: 原著論文  発行国: アメリカ合衆国 (USA)  言語: 英語 (EN)
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ホロー陰極アーク放電は高分子基板上のけい素含有プラズマ高分子薄膜のロール・ツー・ロール堆積に使用した。を用いて単量体ヘキサメチルジシロキサン(HMDSO)のフラグメンテーションはプラズマパワーの増加と共に増加することが分かった。より高いフラグメンテーションはC-H結合の破壊の結果として減少した水素含有量に関連していた。これは,より高い架橋度のを可能にした。後者は被覆のバリア性能に正の効果を持つ。分離アノードを用いたホロー陰極アーク放電は,PET基板上の0.16gm~ 2日~ 1(38°C,90%相対湿度で測定した)の水蒸気透過速度(WVTR)を有するプラズマ重合体の堆積を可能にした約450nm m分~ 1の蒸着速度を維持した。Copyright 2017 Wiley Publishing Japan K.K. All Rights reserved. Translated from English into Japanese by JST.【Powered by NICT】
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分類 (2件):
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薄膜成長技術・装置  ,  有機化合物の薄膜 

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