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J-GLOBAL ID：201702263769960683   整理番号：17A1259331

ロックイン増幅器に基づくDCマイクログリッドシステムに埋め込まれた故障点標定【Powered by NICT】

Embedded fault location in DC microgrid systems based on a Lock-In Amplifier

著者 (2件)： Paz Francisco (Electrical and Computer Engineering Department, The University of British Columbia, Vancouver, Canada) ,  Ordonez Martin (Electrical and Computer Engineering Department, The University of British Columbia, Vancouver, Canada)
資料名： IEEE Conference Proceedings  (IEEE Conference Proceedings)
巻： 2017  号： PEDG  ページ： 1-6  発行年： 2017年 
JST資料番号： W2441A  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 原著論文  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： マイクログリッドと分散発生システムの進歩は,グリッドを通して保護と管理機能を分配する刺激を作成した。集中スケジューリングと保護システムを用いる代わりに,グリッドにおける各コンバータはこれらの機能に寄与すると期待される。インピーダンス検出に基づく多くの技術は,マイクログリッドの故障を位置決めする手段として提案されている;が,それらの多くは適していないまたはDCマイクログリッドの貫入。グリッドインピーダンス(振幅と位相の両方)の正確な検出は,断層の正確な検出を可能にし,それを,そのために必要であることをイベントに必要な努力を減少させた。本研究では,ロックイン増幅器(LIA)に基づく新しい故障点標定法を紹介した。この技術はシステムの操作の影響を最小限にした故障点標定の正確な検出を可能にする進歩したディジタルアルゴリズムを利用した。インピーダンスの大きさと相の両方を用いることにより,このアルゴリズムは抵抗とインダクタンスに基づく位置を決定し,それにより,単一源からの誤差の影響を緩和することができた。提案した方法は三つの重要な利点を提供する:1)高雑音余裕度,2)低計算コスト,および3)低摂動の大きささらにが,高レベルの精度を維持し,これらの利点を提供する。挙動,異なる欠陥の下での実験的検証を説明するために提案した測定法のシミュレーションを提示した。Copyright 2017 The Institute of Electrical and Electronics Engineers, Inc. All Rights reserved. Translated from English into Japanese by JST【Powered by NICT】

シソーラス用語： 雑音安定度 ,  *マイクログリッド ,  位相 ,  スケジューリング ,  アルゴリズム ,  摂動 ,  変換器 ,  インダクタンス ,  *故障点標定 ,  インピーダンス
準シソーラス用語： 計算コスト ,  *DCマイクログリッド ,  *ロックイン増幅器 , 【Automatic Indexing@JST】

分類 (3件)： 電力系統一般  (NB02000E) ,  屋内配電・電源設備  (NB05050C) ,  配電(事業者側)  (NB05040R)

タイトルに関連する用語 (3件)： ロックイン増幅器 ,  DCマイクログリッド ,  故障点標定