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J-GLOBAL ID：201702263885941073   整理番号：17A1419223

温度キャリブレーション法に基づく低温での分光放射率測定のための改良されたアルゴリズム【Powered by NICT】

An improved algorithm for spectral emissivity measurements at low temperatures based on the multi-temperature calibration method

著者 (5件)： Zhang Kaihua (School of Optoelectronics, Beijing Institute of Technology, Beijing 100081, PR China) ,  Yu Kun (Infrared Optoelectronic Science and Technology Key Laboratory of Henan Province, College of Physics and Materials Science, Henan Normal University, Xinxiang, Henan 453007, PR China) ,  Liu Yufang (School of Optoelectronics, Beijing Institute of Technology, Beijing 100081, PR China) ,  Liu Yufang (Infrared Optoelectronic Science and Technology Key Laboratory of Henan Province, College of Physics and Materials Science, Henan Normal University, Xinxiang, Henan 453007, PR China) ,  Zhao Yuejin (School of Optoelectronics, Beijing Institute of Technology, Beijing 100081, PR China)
資料名： International Journal of Heat and Mass Transfer  (International Journal of Heat and Mass Transfer)
巻： 114  ページ： 1037-1044  発行年： 2017年 
JST資料番号： C0390A  ISSN： 0017-9310  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： イギリス (GBR)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 低温における垂直分光放射率測定のための実験装置を,Fourier変換赤外(FTIR)分光計を用いて構築した。FTIR分光計を多温度法に基づく高品質参照黒体に対して較正した。スペクトル応答関数R(λ)は最小二乗法により計算した。放射率測定の精度を改善するために,背景放射による妨害を除去するための改良アルゴリズムを提示した。スペクトル応答関数R(λ)による放射率不確実性を解析した。多重温度キャリブレーション法と二温度法によって得られた結果の比較を提示した。調べたスペクトル範囲でFTIR分光計応答の線形性は1%よりもより良い大気吸収に起因するスペクトルバンドであった。高純度(99wt%)アルミナ試料を用いて,改良されたアルゴリズムによって得られた放射率結果を検証することであった。Christiansen波長付近で文献データとの優れた一致が著者らの実験装置と改良されたアルゴリズムは,信頼性のある測定を提供することができることを示した。アルミナ試料のスペクトル放射率の計算した相対結合不確実性は検討されるスペクトル範囲の5.1%以下であると推定した。Copyright 2017 Elsevier B.V., Amsterdam. All rights reserved. Translated from English into Japanese by JST.【Powered by NICT】

シソーラス用語： *アルゴリズム ,  線形性 ,  *放射率 ,  Fourier変換 ,  スペクトル ,  *低温 ,  波長 ,  不確実性 ,  分光計 ,  スペクトルバンド ,  応答関数 ,  *分光放射率 ,  信頼性 ,  アルミナ ,  最小二乗法

著者キーワード (5件)： 改良されたアルゴリズム ,  キャリブレーション ,  FTIRスペクトロメータ ,  スペクトル放射率 ,  低温度

分類 (2件)： 温度測定,温度計  (AD06010K) ,  対流・放射熱伝達  (PA02030K)

タイトルに関連する用語 (4件)： キャリブレーション ,  低温 ,  分光放射率 ,  アルゴリズム