Pedrini G. について
Institut fuer Technische Optik, Universitaet Stuttgart, Germany について
Martinez-Garcia V. について
Institut fuer Fertigungstechnologie Keramischer Bauteile, Universitaet Stuttgart, Germany について
Weidmann P. について
Institut fuer Materialpruefung, Werkstoffkunde und Festigkeitslehre, Universitaet Stuttgart, Germany について
Singh A. について
Institut fuer Technische Optik, Universitaet Stuttgart, Germany について
Osten W. について
Institut fuer Technische Optik, Universitaet Stuttgart, Germany について
IEEE Conference Proceedings について
残留応力 について
面内変位 について
ホログラフィー一般 について
干渉測定と干渉計 について
可視光によるホログラフィー について
ホログラフィーの応用 について
残留応力 について
解析 について
光学 について
ナノメータ について
変位 について