Rohbani Nezam について
Department of Computer Engineering, Sharif University of Technology, Tehran, Iran について
Miyamoto Hidenori について
HiSIM Research Center, Hiroshima University, Higashi-Hiroshima 739-8530, Japan について
Kikuchihara Hideyuki について
HiSIM Research Center, Hiroshima University, Higashi-Hiroshima 739-8530, Japan について
Navarro Dondee について
HiSIM Research Center, Hiroshima University, Higashi-Hiroshima 739-8530, Japan について
Maiti Tapas Kumar について
HiSIM Research Center, Hiroshima University, Higashi-Hiroshima 739-8530, Japan について
Ma Chenyue について
HiSIM Research Center, Hiroshima University, Higashi-Hiroshima 739-8530, Japan について
Miura-Mattausch Mitiko について
HiSIM Research Center, Hiroshima University, Higashi-Hiroshima 739-8530, Japan について
Miremadi Seyed-Ghassem について
Department of Computer Engineering, Sharif University of Technology, Tehran, Iran について
Mattausch Hans Jurgen について
HiSIM Research Center, Hiroshima University, Higashi-Hiroshima 739-8530, Japan について
IEEE Conference Proceedings について
ホットキャリア について
シミュレーション について
SRAM について
モデリング について
モデル について
MOSFET について
NBTI について
トラップ密度 について
コンパクトモデル について
半導体集積回路 について
固体デバイス計測・試験・信頼性 について
MOSFET について
検証 について
加齢 について
モデル化 について