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J-GLOBAL ID:201702265991123736   整理番号:17A1019995

MOCVDを用いたGaAs(001)基板上のInAsSb膜の成長のためのバッファフリー法【Powered by NICT】

A buffer-free method for growth of InAsSb films on GaAs (001) substrates using MOCVD
著者 (7件):
資料名:
巻: 468  ページ: 252-257  発行年: 2017年 
JST資料番号: B0942A  ISSN: 0022-0248  資料種別: 逐次刊行物 (A)
記事区分: 原著論文  発行国: オランダ (NLD)  言語: 英語 (EN)
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のためのGaAs(001)基板上にInAsSb膜の直接成長のための簡単な熱処理方法を報告した。成長させたInAsSb膜の特性を,走査電子顕微鏡,原子間力顕微鏡,X線回折,光ルミネセンスとH all測定によって系統的に特性化した。はこの方法で成長させたInAsSb膜は非常に滑らかで,鏡のような形態,良好な電気的及び光学的性質を持つ高品質を有することを見出している。特に,約3660nmに強い光ルミネセンスピークを室温,室温中赤外オプトエレクトロニクス応用のための成長させたInAsSb膜の能力を実証するでさえも観測できた。この成長法の機構を詳細に論じた。はこの研究では,GaAs基板上に直接高品質InAsSb膜を成長させるための簡単で実行可能な緩衝戦略を提供し,他のヘテロエピタキシャル成長に有利であると信じている。Copyright 2017 Elsevier B.V., Amsterdam. All rights reserved. Translated from English into Japanese by JST.【Powered by NICT】
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分類 (1件):
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半導体薄膜 
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