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J-GLOBAL ID：201702267262894424   整理番号：17A1607794

シリカ/水界面での電気二重層構造を記述するための新しいツールとしての低温XPSで評価した対イオンと共存イオンの蓄積【Powered by NICT】

Accumulation of counterions and coions evaluated by cryogenic XPS as a new tool for describing the structure of electric double layer at the silica/water interface

著者 (5件)： Skvarla Jiri (Institute of Earth Resources, Technical University in Kosice, 042 00 Kosice, Slovak Republic. [e-mail]) ,  Kanuchova Maria ,  Shchukarev Andrey ,  Brezani Ivan ,  Skvarla Juraj
資料名： Physical Chemistry Chemical Physics  (Physical Chemistry Chemical Physics)
巻： 19  号： 43  ページ： 29047-29052  発行年： 2017年 
JST資料番号： A0271C  ISSN： 1463-9076  CODEN： PPCPFQ  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 短報  発行国： イギリス (GBR)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 低温X線光電子分光法を用いた天然固体/液体界面での電気二重層(EDL)の構造を評価する新しい方法を導入した。この方法は低温XPSによるコロイド粒子のin situ状態に近い表面での支持電解質の対イオンと共イオンの原子濃度比を評価し,EDLモデルによって予測された類似の比と比較することに基づいている。pHが6から8のKCl水溶液中のシリカコロイドでは,後者の比が,シリカの負に帯電した表面に期待されるように1より高いことが分かったが,理想的な界面に関する基本的なGouy-Chapman EDLモデルの予測と対応していない。しかし,これは,膨潤性イオン透過性(Donnanian)高分子電解質ゲル層に関する簡単なEDLモデルを適用して,類似シリカコロイドの電解凝集速度についての実験から導かれた値と一致した。固体/液体界面でのEDLの伝統的なStern層に基づく概念は,少なくともKCl溶液中の金属酸化物に関しては正当化されない。Copyright 2017 Royal Society of Chemistry All Rights reserved. Translated from English into Japanese by JST【Powered by NICT】

シソーラス用語： *固液界面 ,  *電気二重層 ,  *X線光電子分光法 ,  *対イオン ,  表面性状 ,  支持電解質 ,  塩化カリウム ,  水溶液 ,  凝集 ,  高分子電解質 ,  膨潤 ,  *イオン
準シソーラス用語： *層構造 ,  コロイド粒子 ,  原子比 ,  階層モデル ,  コロイドシリカ ,  負帯電 ,  Gouy-Chapman理論 ,  理論モデル ,  高分子ゲル ,  イオン透過

分類 (3件)： コロイド化学一般  (CB11010C) ,  電気化学的分極  (CB07030J) ,  一般及び無機化合物の電子分光スペクトル(分子)  (BH06091Y)

タイトルに関連する用語 (13件)： シリカ ,  水 ,  界面 ,  電気二重層 ,  記述 ,  ツール ,  低温 ,  XPS ,  評価 ,  対イオン ,  共存 ,  イオン ,  蓄積