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J-GLOBAL ID:201702267774318239   整理番号:17A1004891

FR-4基板における誘電体損と伝送損失に関する検討

Study on Transmission Loss and Dielectric Loss of FR-4 Substrate.
著者 (7件):
資料名:
巻: 117  号: 147(EMD2017 13-17)  ページ: 13-18  発行年: 2017年07月14日 
JST資料番号: S0532B  ISSN: 0913-5685  資料種別: 会議録 (C)
記事区分: 原著論文  発行国: 日本 (JPN)  言語: 日本語 (JA)
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近年,プリント基板における信号伝送は数GHz以上が用いれ,誘電体の分散性のため,信号特性の減衰,線路放射やクロストークの増加が問題となっている。本研究では,ガラスエポキシ(FR-4)基板における誘電体損と信号伝送における損失の関係について検討するため,複素誘電率を平衡型円板共振器およびスプリット・ポスト共振器(SPDR)により測定した。また,差動線路における伝送特性Sdd21を測定した。伝送特性の実測値と誘電体損から算出したSdd21を比較することで,複素誘電率と伝送特性との関連性について明らかにした。(著者抄録)
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集積回路一般 
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