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J-GLOBAL ID：201702267892111863   整理番号：17A1637522

電気光学プロービング/周波数マッピング(EOP/EOFM)応用新しいアナログデバイスの故障分離【Powered by NICT】

Electro optical probing / frequency mapping (EOP/EOFM) application in failure isolation of advanced analogue devices

著者 (4件)： Zhang Haus (Product Quality Centre in NXP Semiconductor (China) Limited, No.15 Xinghua Avenue, Xiqing Economic Development Area, Tianjin, China 300385) ,  Tian Power (Product Quality Centre in NXP Semiconductor (China) Limited, No.15 Xinghua Avenue, Xiqing Economic Development Area, Tianjin, China 300385) ,  Qian Xuejian (Product Quality Centre in NXP Semiconductor (China) Limited, No.15 Xinghua Avenue, Xiqing Economic Development Area, Tianjin, China 300385) ,  Wang Winter (Product Quality Centre in NXP Semiconductor (China) Limited, No.15 Xinghua Avenue, Xiqing Economic Development Area, Tianjin, China 300385)
資料名： IEEE Conference Proceedings  (IEEE Conference Proceedings)
巻： 2017  号： IPFA  ページ： 1-5  発行年： 2017年 
JST資料番号： W2441A  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 原著論文  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 前面からの成功した故障分離が非常に高価で時間がかかる技術ノードが増している。電気光周波数マッピング(EOFM)とプロービング(EOP)から成る電気光学技術は,動的光学的解析技術である。EOP/EOFM応用は,集積回路(IC)の設計デバッグまたは設計特性化に焦点を当てたが,これらの技術はグローバル機能的故障分離のための使用されていない。本論文では,高度なアナログデバイスのグローバル機能的故障分離におけるEOP/EOFMアプリケーションの実装を検討した。二種類の破壊モード(SPI論理故障とタイミング遅延問題)を本論文で話題であり,両場合において,EOP/EOFMは成功した電気絶縁と成功した根本原因同定の間の違いを示した。Copyright 2017 The Institute of Electrical and Electronics Engineers, Inc. All Rights reserved. Translated from English into Japanese by JST【Powered by NICT】

シソーラス用語： *周波数 ,  破壊モード ,  キャラクタリゼーション ,  応用プログラム ,  デバッギング ,  集積回路 ,  *故障
準シソーラス用語： 光技術 ,  光周波数 ,  *故障隔離 ,  *プロービング , 【Automatic Indexing@JST】

分類 (1件)： 集積回路一般  (NC03161C)

タイトルに関連する用語 (5件)： 光学 ,  マッピング ,  応用 ,  アナログ ,  故障分離