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J-GLOBAL ID：201702268506056992   整理番号：17A0328641

信頼性強化のための新しいキャッシュ利用に基づく動的電圧-周波数スケーリング機構【Powered by NICT】

A Novel Cache-Utilization-Based Dynamic Voltage-Frequency Scaling Mechanism for Reliability Enhancements

著者 (5件)： Chen Yen-Hao (Department of Computer Science, National Tsing Hua University, Hsinchu, Taiwan) ,  Tang Yi-Lun (Department of Computer Science, National Tsing Hua University, Hsinchu, Taiwan) ,  Liu Yi-Yu (Department of Computer Science and Engineering, Yuan Ze University, Taoyuan, Taiwan) ,  Wu Allen C.-H. (School of Digital Media, Jiangnan University, Wuxi, China) ,  Hwang TingTing (Department of Computer Science, National Tsing Hua University, Hsinchu, Taiwan)
資料名： IEEE Transactions on Very Large Scale Integration (VLSI) Systems  (IEEE Transactions on Very Large Scale Integration (VLSI) Systems)
巻： 25  号： 3  ページ： 820-832  発行年： 2017年 
JST資料番号： W0516A  ISSN： 1063-8210  CODEN： ITCOB4  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 7T/14T SRAM(藤原.,2009)と信頼性向上のための制御機構を用いたキャッシュアーキテクチャを提案した。制御機構は,のみならず指導挙動もキャッシュ利用当たりサイクルを考慮した従来の動的電圧周波数スケーリング(DVFS)方法とは異なっている。キャッシュ利用を測定するために,新しい計量を提案した。実験結果は,この提案した方法は,超低電圧動作下で従来のDVFS方法と比較して1000倍少ないビット誤り発生を達成することを示した。さらに,結果は,提案した方法は驚くほどだけでなく性能とエネルギーオーバヘッドを発症せず,2.10%の性能改善と従来のDVFS方法と比較して6.66%のエネルギー低減を平均的に達成することを示す。Copyright 2017 The Institute of Electrical and Electronics Engineers, Inc. All Rights reserved. Translated from English into Japanese by JST【Powered by NICT】

シソーラス用語： *信頼性 ,  符号誤り ,  *キャッシュメモリ ,  *電圧
準シソーラス用語： 低電圧 ,  DVFS ,  制御機構 ,  信頼性向上 , 【Automatic Indexing@JST】

分類 (1件)： 半導体集積回路  (NC03162T)

タイトルに関連する用語 (3件)： 強化 ,  キャッシュ ,  周波数スケーリング