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J-GLOBAL ID：201702269255711687   整理番号：17A1369094

放射光科学のための高精度X線ミラーの開発

Development of precision mirrors for X-ray nanofocusing and nanoimaging

著者 (1件)： 山内和人 (大阪大 大学院工学研究科)
資料名： 応用物理  (JSAP International)
巻： 86  号： 10  ページ： 862-866  発行年： 2017年10月10日 
JST資料番号： F0252A  ISSN： 0369-8009  CODEN： OYBSA  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 解説  発行国： 日本 (JPN)  言語： 日本語 (JA)

抄録/ポイント： 放射光X線を利用した分析法は科学技術の発展に不可欠な役割を果たしており,その高度化には,光源とその特性を引き出す光学素子の高性能化が大きく貢献している。ここでは,X線のナノ集光やナノイメージングに利用されるX線ミラーにおいて,求められる精度やその作製法,最新の光学系などについて概観する。(著者抄録)

シソーラス用語： *反射鏡 ,  X線反射 ,  X線 ,  精度 ,  *集束 ,  ビーム集束 ,  シンクロトロン放射
準シソーラス用語： *X線ミラー ,  *ナノ集束 ,  高精度

分類 (1件)： その他の光学機器  (QF05060C)

引用文献 (26件)：

• T.-Y. Chen, Y.-T. Chen, C.-L. Wang, I.M. Kempson, W.-K. Lee, Y.S. Chu, Y. Hwu, and G. Margaritondo: Opt. Express 19, 19919 (2011).
• Y. Suzuki, A. Takeuchi, H. Takenaka, and I. Okada: X-Ray Opt. Instrum. 2010, 1 (2010).
• C.G. Schroer, O. Kurapova, J. Patommel, P. Boye, J. Feldkamp, B. Lengeler, M. Burghammer, C. Riekel, L. Vincze, A. van der Hart, and M. Küchler: Appl. Phys. Lett. 87, 124103 (2005).
• K. Yamauchi, K. Yamamura, H. Mimura, Y. Sano, A. Saito, K. Endo, A. Souvorov, M. Yabashi, K. Tamasaku, T. Ishikawa, and Y. Mori: Appl. Optics 44, 6927 (2005).
• K. Yamauchi, K. Yamamura, H. Mimura, Y. Sano, A. Saito, A. Souvorov, M. Yabashi, K. Tamasaku, T. Ishikawa, and Yuzo Mori: J. Synchrotron Radiat. 9, 313 (2002).

タイトルに関連する用語 (3件)： 放射光科学 ,  X線ミラー ,  開発