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J-GLOBAL ID:201702269308102485   整理番号:17A1556254

BiCMOS55nmにおけるその場雑音の特性化のための140GHzから160GHz能動インピーダンスチューナ【Powered by NICT】

A 140 GHz to 160 GHz active impedance tuner for in-situ noise characterization in BiCMOS 55 nm
著者 (8件):
資料名:
巻: 2017  号: RFIT  ページ: 153-155  発行年: 2017年 
JST資料番号: W2441A  資料種別: 会議録 (C)
記事区分: 原著論文  発行国: アメリカ合衆国 (USA)  言語: 英語 (EN)
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ミリ波能動インピーダンスチューナをその場雑音の特性化用のSTMicroelectronics社製BiCMOS55nm技術に実装した。提案した回路は,11dBの利得と150GHzで 7.5dBのNF64状態受動インピーダンスチューナを搭載した二段低雑音増幅器から構成されている。活性可同調回路は,反射係数Γ>0.5と140~160GHzの周波数範囲で 7dBおよび+4.5dBのS_21パラメータを提供した。146GHzで,雑音指数は8dBから10.5dBまでであった。コア面積は0.336mm~2であった。雑音とSパラメータのその測定した性能は,その統合は,シリコン上のその場雑音特性ベンチで可能にした。Copyright 2017 The Institute of Electrical and Electronics Engineers, Inc. All Rights reserved. Translated from English into Japanese by JST【Powered by NICT】
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分類 (1件):
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増幅回路 
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