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J-GLOBAL ID:201702271720280099   整理番号:17A1697368

原子間力顕微鏡と表面増強Raman散乱の組み合わせによる反応性表面に対する高速高分解能スクリーニング法

Fast High-Resolution Screening Method for Reactive Surfaces by Combining Atomic Force Microscopy and Surface-Enhanced Raman Scattering
著者 (4件):
資料名:
巻: 71  号:ページ: 1551-1559  発行年: 2017年07月 
JST資料番号: A0429A  ISSN: 0003-7028  CODEN: APSPA  資料種別: 逐次刊行物 (A)
記事区分: 原著論文  発行国: イギリス (GBR)  言語: 英語 (EN)
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原子間力顕微鏡(AFM)と表面増強Raman分光法(SERS)を結びつけて,反応性表面の形態と化学的情報の両方を高速・高分解能でスクリーニングできる方法を開発した。これら2つのイメージを正確に配列するために基板上の配向パターンを検討した。100×100 μm2の面積を,0.6×0.6 μm2のサブミクロンの分解能で走査を,30分で行った。本法の実例として,触媒サイトとしては銀ナノ粒子でできた配向パタンと,p-ニトロチオフェノールの光触媒反応を調べた。
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分類 (2件):
分類
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顕微鏡法  ,  有機化合物の赤外・Ramanスペクトル(分子) 
物質索引 (1件):
物質索引
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