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J-GLOBAL ID:201702271924235654   整理番号:17A1374946

高精度非球面ミラー用プローブ走査式表面形状計測装置-計測再現性の評価およびシステムエラーの校正法の検討-

著者 (3件):
資料名:
巻: 2017  号: 秋季(CD-ROM)  ページ: ROMBUNNO.M21  発行年: 2017年09月05日 
JST資料番号: Y0914A  資料種別: 会議録 (C)
記事区分: 短報  発行国: 日本 (JPN)  言語: 日本語 (JA)
抄録/ポイント:
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数メートル台の曲率半径や±5mrad以上の傾斜角分布をもつX線ナノ集光用の高精度非球面ミラーに対して1nmRMSの計測再現性を有する非接触プローブ走査型の形状計測装置の開発を目標とした。曲率半径7mの平凹シリンダミラーについて80mm長を0.1mm間隔で測定した結果,50回平均後,1.0nmRMSを下回る計測再現性を得た。傾斜角に応じて発生する高さシステムエラーについて校正法を検討した。(著者抄録)
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分類 (2件):
分類
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光学的測定とその装置一般  ,  長さ,面積,断面,体積,容積,角度の計測法・機器 
引用文献 (3件):

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