Uren Michael J. について
Center for Device Thermography and Reliability (CDTR), H. H. Wills Physics Laboratory, University of Bristol, Bristol, U.K. について
Karboyan Serge について
Center for Device Thermography and Reliability (CDTR), H. H. Wills Physics Laboratory, University of Bristol, Bristol, U.K. について
Chatterjee Indranil について
CDTR, University of Bristol, Bristol, U.K. について
Pooth Alexander について
Center for Device Thermography and Reliability (CDTR), H. H. Wills Physics Laboratory, University of Bristol, Bristol, U.K. について
Moens Peter について
ON Semiconductor, Oudenaarde, Belgium について
Banerjee Abhishek について
ON Semiconductor, Oudenaarde, Belgium について
Kuball Martin について
Center for Device Thermography and Reliability (CDTR), H. H. Wills Physics Laboratory, University of Bristol, Bristol, U.K. について
IEEE Transactions on Electron Devices について
窒化ガリウム について
電気抵抗率 について
ドーピング について
電力 について
チャネル について
炭素 について
ヘテロ接合 について
スイッチングトランジスタ について
エピタクシー について
正孔 について
スイッチング について
拡張欠陥 について
基板バイアス について
トラッピング について
デバイス特性 について
トランジスタ について
漏れ について
炭素 について
ドープ について
AlGaN について
EMT について
モデル について