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J-GLOBAL ID:201702274768288632   整理番号:17A1457414

プラズマホットスポット診断のための新しいX線スペクトロメータ【Powered by NICT】

A novel X-ray spectrometer for plasma hot spot diagnosis
著者 (7件):
資料名:
巻: 866  ページ: 72-75  発行年: 2017年 
JST資料番号: D0208B  ISSN: 0168-9002  資料種別: 逐次刊行物 (A)
記事区分: 原著論文  発行国: オランダ (NLD)  言語: 英語 (EN)
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プラズマ中の異なる条件を診断するために設計された新しいX線スペクトロメータ。X線分光法とプラズマ画像情報の両者を同時に供給することができる。二対楕円結晶分析器の2 20keVの範囲におけるX線分光法を測定するために使用される。ゲートマイクロチャネルプレート(MCP)検出器を組み合わせたピンホールイメージングシステムを開発し,これは単一個体実験で収集した20画像を可能にする。スペクトル測定の実験を分光計の有用性を実証するために工学物理の中国学会における「Shenguang-IIアップグレードレーザ」で実施した。X線分光情報は,イメージプレート(IP)により得た。ホットスポットイメージング実験は,「Shenguang-IIIプロトタイプ施設」で実施した。分光計を用いたホットスポット画像を得た,ノイズ比30~40の信号を観測した。Copyright 2017 Elsevier B.V., Amsterdam. All rights reserved. Translated from English into Japanese by JST.【Powered by NICT】
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分類 (1件):
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電子分光スペクトル 
タイトルに関連する用語 (4件):
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