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J-GLOBAL ID：201702275388264162   整理番号：17A0565641

質量分析のための粒子衝撃型脱離イオン化法

著者 (1件)： 二宮啓 (山梨大学大学院総合研究部電気電子情報工学系)
資料名： Journal of the Mass Spectrometry Society of Japan  (Journal of the Mass Spectrometry Society of Japan)
巻： 65  号： 1  ページ： 17-20(J-STAGE)  発行年： 2017年 
JST資料番号： G0046A  ISSN： 1340-8097  CODEN： JMSJEY  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 解説  発行国： 日本 (JPN)  言語： 日本語 (JA)

抄録/ポイント： 質量分析のためのイオン化法としては,エレクトロスプレーイオン化法やマトリックス支援レーザ脱離イオン化法が有名であるが,その他にも数々のイオン化法が開発されてきた。どのイオン化法も万能ではないため,今後もより優れたイオン化法の開発が必要である。本稿では,原子や分子からなる何らかの粒子を衝撃させて有機分子を脱離イオン化する「粒子衝撃型脱離イオン化法」について紹介した。質量分析において粒子衝撃型脱離イオン化法は,現在主流とはいえないものの,今後の研究により有効な手段の一つとなることが期待される。

シソーラス用語： *原子衝突 ,  *スパッタリング ,  *イオン化 ,  *質量分析 ,  プラズマ脱離質量分析 ,  カリホルニウム252 ,  重イオン衝突 ,  *二次イオン質量分析
準シソーラス用語： *粒子衝撃型脱離イオン化

分類 (1件)： 質量分析計  (BD02060M)

引用文献 (29件)：

• 1) P. Sigmund, Phys. Rev., 184, 383 (1969).
• 2) D. F. Torgerson, R. P. Skowronski, and R. D. Macfarlane, Biochem. Biophys. Res. Commun., 60, 616 (1974).
• 3) Y. Nakata, Y. Honda, S. Ninomiya, T. Seki, T. Aoki, and J. Matsuo, J. Mass Spectrom., 44, 128 (2009).
• 4) M. J. Bailey, B. N. Jones, S. Hinder, J. Watts, S. Bleay, and R. P. Webb, Nucl. Instr. Meth. Phys. Res. B, 268, 1929 (2010).
• 5) M. Kusakari, M. Fujii, T. Seki, T. Aoki, and J. Matsuo, J. Vac. Sci. Tech. B, 34 (3), 03H111 (2016).

タイトルに関連する用語 (4件)： 質量分析 ,  衝撃 ,  脱離 ,  イオン化