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J-GLOBAL ID：201702275943240555   整理番号：17A1727266

回復効果とその回路設計に対する統一老化モデル【Powered by NICT】

A unified aging model with recovery effect and its impact on circuit design
著者 (10件)：
Lee Wai-Kit

Lee Wai-Kit について

(Taiwan Semiconductor Manufacturing Company, 168, Park Ave 2, Hsin-Chu Science Park, Hsin-Chu County, Taiwan 308-44, R.O.C)

Taiwan Semiconductor Manufacturing Company, 168, Park Ave 2, Hsin-Chu Science Park, Hsin-Chu County, Taiwan 308-44, R.O.C について

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Huang Kasa

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Hsu Li Chung

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(Taiwan Semiconductor Manufacturing Company, 168, Park Ave 2, Hsin-Chu Science Park, Hsin-Chu County, Taiwan 308-44, R.O.C)

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Huang Clement

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Liang Jim

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Chen Julian

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Hsiao Cheng

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Su Ke-Wei

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Lin Chung-Kai

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Jeng Min-Chie

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資料名：
IEEE Conference Proceedings  (IEEE Conference Proceedings)

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巻： 2017  号： SISPAD  ページ： 93-96  発行年： 2017年 
JST資料番号： W2441A  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 原著論文  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)
抄録/ポイント：
抄録/ポイント
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本論文では,だけでなくTMIと回復効果を実装し,回復効果を考慮せずに,システムの設計余裕は下または過大評価できることを示すために,様々な例を与えるかを議論した。モデリング方法論を検証するために,シミュレーション結果は,測定データとベンチマークした。Copyright 2017 The Institute of Electrical and Electronics Engineers, Inc. All Rights reserved. Translated from English into Japanese by JST【Powered by NICT】
シソーラス用語：
シソーラス用語/準シソーラス用語
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モデリング

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シミュレーション

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*モデル

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ベンチマーク

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*回路設計

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分類 (2件)：
分類
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計算機システム開発 
(JD02010R)

計算機システム開発 について

,  原子炉核特性 
(MD02040B)

原子炉核特性 について

タイトルに関連する用語 (4件)：
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回路設計

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老化

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モデル

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