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J-GLOBAL ID:201702276090161406   整理番号:17A0988135

周囲脱離/イオン化質量分析のための種々の放電ガスを用いたマイクロ波誘導プラズマの探査と性能評価【Powered by NICT】

Exploration and performance evaluation of microwave-induced plasma with different discharge gases for ambient desorption/ionization mass spectrometry
著者 (4件):
資料名:
巻: 31  号: 11  ページ: 919-927  発行年: 2017年 
JST資料番号: T0695A  ISSN: 0951-4198  CODEN: RCMSEF  資料種別: 逐次刊行物 (A)
記事区分: 原著論文  発行国: イギリス (GBR)  言語: 英語 (EN)
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根拠:アルゴンまたはヘリウムの種々の放電ガスを用いたマイクロ波誘導プラズマ(MIP)は有意なプラズマ大気圧脱着/イオン源,試料前処理なしに複雑な試料の直接分析に応用できる可能性を提供する。本研究では,実験は,マイクロ波誘導プラズマ脱離/イオン化(MIPDI)源と対応するイオン化機構をより良く理解するために行った。マイクロ波誘導アルゴン(MIP Ar)とヘリウム(MIP He)プラズマの【方法】発光スペクトルはMIP源のプラズマテール炎から得た。L フェニルアラニン,L-セリン,L-バリン,尿素,4 アセトアミノフェン,没食子酸とL アスコルビン酸を含む化合物は汚染源の両方を用いて分析した。ポリエチレングリコール400(PEG400)オリゴマは種々のマイクロ波パワーでMIP ArとMIP He質量分析によって検出した。より高い分子量のPEG(PEG800,PEG1000とPEG2000を含む)の質量スペクトルは,また,両方の源を用いて得た。【結果】発光スペクトルでは,N_2,H-IおよびO-I種はMIP Ar/Heで観察した。さらに,SiO_2,NaI,Si-IとSi-II種はMIP Heにより発生させた。化合物の質量スペクトルでは,[M+H]~+,[2M+H]~+,[M+O+H]~+,[M O-H]~+とフラグメントイオンが観察された。種々のマイクロ波パワーでMIP Ar/Heによって得られたPEG400の質量スペクトルでは,より高い分子量オリゴマは,より高いマイクロ波出力で観察されなかった。1000Da分子量を持つPEGはMIPDIによってよく分析することができた。【結論】試料の異なった性質によると,MIP ArまたはMIP Heが質量分析のためのイオン源として選ぶことができる。MIPDI源は,特に重合の高程度(PEG2000のような)をもつ重合体,高分子量の化合物の分析従来の大気圧イオン化源のための挑戦的な課題である潜在的に適用可能である。Copyright 2017 Wiley Publishing Japan K.K. All Rights reserved. Translated from English into Japanese by JST.【Powered by NICT】
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分類 (2件):
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有機化合物の物理分析  ,  質量分析 
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