Wei Jiaxing について
National ASIC System Engineering Research Center, Southeast University, 210096 Nanjing, Jiangsu, China について
Liu Siyang について
National ASIC System Engineering Research Center, Southeast University, 210096 Nanjing, Jiangsu, China について
Liu Xiaoqiang について
National ASIC System Engineering Research Center, Southeast University, 210096 Nanjing, Jiangsu, China について
Sun Weifeng について
National ASIC System Engineering Research Center, Southeast University, 210096 Nanjing, Jiangsu, China について
Liu Yuwei について
CSMC Technologies Corporation, 214028 Wuxi, Jiangsu, China について
Liu Xiaohong について
CSMC Technologies Corporation, 214028 Wuxi, Jiangsu, China について
Science and Technology on Reliability Physics and Application Technology of Electronic Component Laboratory, 510610 Guangzhou, Guangdong, China について
Solid-State Electronics について
界面 について
耐久性 について
シミュレーション について
チャネル について
トランジスタ について
外挿法 について
酸化物 について
TCAD について
チャージポンプ回路 について
劣化機構 について
pチャネルフラッシュメモリ について
浮遊ゲート について
耐久性劣化 について
寿命モデル について
トランジスタ について
チャネル について
フローティングゲート について
フラッシュメモリ装置 について
寿命 について
モデル について