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J-GLOBAL ID：201702276228010076   整理番号：17A0590508

その場チップ処理段を持つ低温走査トンネル顕微鏡の改善した設計

Improved design for a low temperature scanning tunneling microscope with an in situ tip treatment stage

著者 (7件)： Kim J.-J. (Department of Physics and Astronomy, Institute of Applied Physics, Seoul National University, Seoul 08826, South Korea and Center for Correlated Electron Systems, Institute for Basic Science(IBS), Seoul 08826, South Korea) ,  Joo S. H. (Department of Physics and Astronomy, Institute of Applied Physics, Seoul National University, Seoul 08826, South Korea and Center for Correlated Electron Systems, Institute for Basic Science(IBS), Seoul 08826, South Korea) ,  Lee K. S. (Department of Physics and Astronomy, Institute of Applied Physics, Seoul National University, Seoul 08826, South Korea and Center for Correlated Electron Systems, Institute for Basic Science(IBS), Seoul 08826, South Korea) ,  Yoo J. H. (Department of Physics and Astronomy, Institute of Applied Physics, Seoul National University, Seoul 08826, South Korea and Center for Correlated Electron Systems, Institute for Basic Science(IBS), Seoul 08826, South Korea) ,  Park M. S. (Department of Physics and Astronomy, Institute of Applied Physics, Seoul National University, Seoul 08826, South Korea and Center for Correlated Electron Systems, Institute for Basic Science(IBS), Seoul 08826, South Korea) ,  Kwak J. S. (Department of Physics and Astronomy, Institute of Applied Physics, Seoul National University, Seoul 08826, South Korea and Center for Correlated Electron Systems, Institute for Basic Science(IBS), Seoul 08826, South Korea) ,  Lee Jinho (Department of Physics and Astronomy, Institute of Applied Physics, Seoul National University, Seoul 08826, South Korea and Center for Correlated Electron Systems, Institute for Basic Science(IBS), Seoul 08826, South Korea)
資料名： Review of Scientific Instruments  (Review of Scientific Instruments)
巻： 88  号： 4  ページ： 043702-043702-7  発行年： 2017年04月 
JST資料番号： D0517A  ISSN： 0034-6748  CODEN： RSINAK  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 低温走査トンネル顕微鏡(LT-STM)は,表面科学においてだけでなくまた物性物理学においても極めて価値のあるツールである。多年多数の新アイデアがLT-STM性能を完成するために採用された-極低振動(ULV)実験室と剛体STMヘッド設計はその中にある。ここで我々はULV実験室とLT-STMの設計について,三つの改善:チップ処理段,試料劈開段及び振動隔離系を述べる。改善したチップ処理段は我々に,試料交換の無いその場チップ処理の目的で電界放射を行うことを可能にする一方,我々の高めた試料劈開段は我々に,単純な押運動によって光学的アクセス無く真空中低温で試料の劈開を可能にする。我々の新設計した振動隔離系は効率的空間用法を提供する一方振動隔離能力を維持する。これらの改善は多数日続き得る分光画像化実験の質を高め,また増加するデータ収率を与え,それを我々は将来のLT-STM設計で必須の要素であり得ると期待する。(翻訳著者抄録)

シソーラス用語： *走査型トンネル顕微鏡 ,  低温 ,  チップ ,  処理 ,  設計 ,  試料 ,  劈開【結晶】 ,  振動

分類 (1件)： 顕微鏡法  (BK01040E)

タイトルに関連する用語 (3件)： 低温 ,  走査トンネル顕微鏡 ,  設計