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J-GLOBAL ID:201702277393014296   整理番号:17A1170533

パターン抵抗/導電性SiCテンプレート上のAlGaNH EMT【Powered by NICT】

AlGaN HEMTs on patterned resistive/conductive SiC templates
著者 (10件):
資料名:
巻: 464  ページ: 159-163  発行年: 2017年 
JST資料番号: B0942A  ISSN: 0022-0248  資料種別: 逐次刊行物 (A)
記事区分: 原著論文  発行国: オランダ (NLD)  言語: 英語 (EN)
抄録/ポイント:
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SiC上の高性能GaNベース高電子移動度トランジスタ(HEMT)を低ミスカット(0.45°),抵抗基板,非常に高価なを必要とする。費用効率の高い解決策,すなわち抵抗SiCテンプレートを用いて,安価な,導電性SiC基板上の厚い抵抗SiCエピタキシャル層を成長させた。しかし,この方法ははるかに高いミスカット(2 8°)を必要とする。本研究では,抵抗SiCテンプレートの高ミスカットを減少させる局所的に,GaNエピタクシーのための許容レベルまでできる横方向パターン形成技術を示した。このようなパターン化SiCテンプレート,平滑なAlGaN/GaN構造を成長させた。デバイス作製用の利用可能な平坦領域の最大幅はほぼ100μmであった。これら平坦領域ではAlGaN系H EMTを作製し,特性化した。Copyright 2017 Elsevier B.V., Amsterdam. All rights reserved. Translated from English into Japanese by JST.【Powered by NICT】
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, 【Automatic Indexing@JST】
分類 (1件):
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半導体薄膜 
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