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J-GLOBAL ID：201702278329238674   整理番号：17A0885905

各種チャネル形状におけるマイクロチャネルプレートの利得と時間特性【Powered by NICT】

The Gain and Time Characteristics of Microchannel Plates in Various Channel Geometries

著者 (15件)： Chen Lin (Key Laboratory of Ultra-fast Photoelectric Diagnostics Technology, Xi’an Institute of Optics and Precision Mechanics, Chinese Academy of Sciences, Xi’an, China) ,  Wang Xingchao (North Night Vision Technology Company, Ltd., Nanjing, China) ,  Tian Jinshou (Key Laboratory of Ultra-fast Photoelectric Diagnostics Technology, Xi’an Institute of Optics and Precision Mechanics, Chinese Academy of Sciences, Xi’an, China) ,  Zhao Tianchi (Chinese Academy of Sciences, Institute of High Energy Physics, Beijing, China) ,  Liu Chunliang (Xi’an Jiaotong University, Xi’an, China) ,  Liu Hulin (Key Laboratory of Ultra-fast Photoelectric Diagnostics Technology, Xi’an Institute of Optics and Precision Mechanics, Chinese Academy of Sciences, Xi’an, China) ,  Wei Yonglin (Key Laboratory of Ultra-fast Photoelectric Diagnostics Technology, Xi’an Institute of Optics and Precision Mechanics, Chinese Academy of Sciences, Xi’an, China) ,  Sai Xiaofeng (Key Laboratory of Ultra-fast Photoelectric Diagnostics Technology, Xi’an Institute of Optics and Precision Mechanics, Chinese Academy of Sciences, Xi’an, China) ,  Wang Xing (Key Laboratory of Ultra-fast Photoelectric Diagnostics Technology, Xi’an Institute of Optics and Precision Mechanics, Chinese Academy of Sciences, Xi’an, China) ,  Sun Jianning (North Night Vision Technology Company, Ltd., Nanjing, China) ,  Si Shuguang (North Night Vision Technology Company, Ltd., Nanjing, China) ,  Chen Ping (Key Laboratory of Ultra-fast Photoelectric Diagnostics Technology, Xi’an Institute of Optics and Precision Mechanics, Chinese Academy of Sciences, Xi’an, China) ,  Tian Liping (Key Laboratory of Ultra-fast Photoelectric Diagnostics Technology, Xi’an Institute of Optics and Precision Mechanics, Chinese Academy of Sciences, Xi’an, China) ,  Hui Dandan (Key Laboratory of Ultra-fast Photoelectric Diagnostics Technology, Xi’an Institute of Optics and Precision Mechanics, Chinese Academy of Sciences, Xi’an, China) ,  Guo Lehui (Key Laboratory of Ultra-fast Photoelectric Diagnostics Technology, Xi’an Institute of Optics and Precision Mechanics, Chinese Academy of Sciences, Xi’an, China)
資料名： IEEE Transactions on Nuclear Science  (IEEE Transactions on Nuclear Science)
巻： 64  号： 4  ページ： 1080-1086  発行年： 2017年 
JST資料番号： C0235A  ISSN： 0018-9499  CODEN： IETNAE  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： マイクロチャネルプレート(MCP)は,電子,イオン,およびX線検出器として広く用いられている。MCPの利得係数と時間分解能はその運転および形状パラメータ(印加電圧,長さ対直径比,バイアス角,および電極浸透深さ)に強く依存した。この依存性についての測定はわずかで,パラメータの全範囲をカバーしていない。本論文では,3D単一チャネルモデルを種々の運転および形状パラメータのためのMCP利得と時間分解能を計算体系的かつ包括的に計算機シミュレーション技術スタジオスーツを開発した。Furman二次電子放出モデルをシミュレーションに使用した。利得対バイアス電圧のシミュレーション結果は,利用可能な実験データにより検証した。最後に,373.6μm,10μm,h_in=h_out=5μm,と12°の幾何学的パラメータは,MCP性能を最適化するために提案した。シミュレーション結果は,最適化されたMCPの増加,平均通過時間と通過時間の広がりは1000Vの印加電圧で128012であり,128psと19psに達することが期待されていることを示した。Copyright 2017 The Institute of Electrical and Electronics Engineers, Inc. All Rights reserved. Translated from English into Japanese by JST【Powered by NICT】

シソーラス用語： *チャネル ,  三次元 ,  X線検出器 ,  シミュレーション ,  *マイクロチャネルプレート ,  計算機シミュレーション ,  バイアス ,  *利得 ,  二次電子放出 ,  時間分解能 ,  最適化
準シソーラス用語： 通過時間 ,  バイアス電圧 ,  印加電圧 ,  形状パラメータ , 【Automatic Indexing@JST】

分類 (1件)： 放射線検出・検出器  (AD08020J)

タイトルに関連する用語 (3件)： チャネル ,  マイクロチャネルプレート ,  利得