Filipovic L. について
Institute for Microelectronics, Technische Universitaet Wien, Gus&hausstras&e 27-29/E360, 1040 Wien, Austria について
de Orio R.L. について
School of Electrical and Computer Engineering, UNICAMP, Av. Albert Einstein 400, 13083-852 Campinas - SP, Brazil について
Zisser W.H. について
Institute for Microelectronics, Technische Universitaet Wien, Gus&hausstras&e 27-29/E360, 1040 Wien, Austria について
Selberherr S. について
Institute for Microelectronics, Technische Universitaet Wien, Gus&hausstras&e 27-29/E360, 1040 Wien, Austria について
IEEE Conference Proceedings について
界面 について
エレクトロマイグレーション について
相互接続 について
モデリング について
微細構造 について
結晶粒 について
電流密度 について
銅 について
結晶粒界 について
電気抵抗率 について
材料特性 について
平均粒子径 について
印加電圧 について
ナノスケール について
固体デバイス計測・試験・信頼性 について
半導体の格子欠陥 について
ナノスケール について
銅 について
相互接続 について
エレクトロマイグレーション について
モデル化 について