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J-GLOBAL ID:201702280022539087   整理番号:17A1696307

酸化物単結晶基板上に成膜したCr2O3薄膜の結晶性向上のための成長条件探索

Investigation for Improvement of Crystalline Quality of Cr2O3 Thin Film Deposited on Oxide Single Crystal Substrates
著者 (7件):
資料名:
巻: 117  号: 224(CPM2017 59-66)  ページ: 11-14  発行年: 2017年09月27日 
JST資料番号: S0532B  ISSN: 0913-5685  資料種別: 会議録 (C)
記事区分: 短報  発行国: 日本 (JPN)  言語: 日本語 (JA)
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r面サファイア及びYAlO3基板上にCr2O3,(Cr0.98Fe0.02)2O3,(Cr0.50Fe0.50)2O3薄膜を作製した。r面サファイア基板上に成膜した(Cr0.98Fe0.02)2O3,(Cr0.50Fe0.50)2O3薄膜は強い一軸異方性を持って成長した。またYAlO3上に成膜した(Cr0.98Fe0.02)2O3薄膜のグレインはFeドープなしのCr2O3と比べ約4倍大きくなり,溝が50%以下に抑制された。また2θ-θパターンよりYAlO3上に成膜した(Cr0.98Fe0.02)2O3薄膜では面直格子間隔がほぼCr2O3と変わらなかったが,(Cr0.50Fe0.50)2O3では0.367nmと1.1%大きくなった。(著者抄録)
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分類 (1件):
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酸化物薄膜 

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